SiC雙極型功率半導(dǎo)體器件低功耗驅(qū)動技術(shù)研究
【學(xué)位授予單位】:湖南大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TN303
【圖文】:
/5A 的 SiC DMOSFET 功率模塊,耐壓為 15kV 的 SiC MO IGBT 功率模塊,耐壓高達(dá) 21kV 的高壓 SiC BJT,耐壓 15k以及耐壓達(dá) 22kV 的 SiC ETO 功率模塊等[6-12]。電子器件領(lǐng)域,SiC 半導(dǎo)體器件是繼 Si 基半導(dǎo)體器件后一器件因具有較低的導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗,在半導(dǎo)體器件領(lǐng)域件。另外,隨著基于 SiC 材料的新型器件不斷被研發(fā)及其定能開發(fā)出在電力系統(tǒng)高壓領(lǐng)域中的全新應(yīng)用,這對電力了非凡意義[13]。功率半導(dǎo)體器件實際的應(yīng)用率半導(dǎo)體器件憑借自身的優(yōu)良特性使得應(yīng)用范圍不斷擴大領(lǐng)域的同時,還可以應(yīng)用于提高電力系統(tǒng)和軍用武器裝備統(tǒng)中,電力電子器件及其裝置應(yīng)用十分普遍,尤其是在新流輸電系統(tǒng)、微網(wǎng)及其分布式發(fā)電系統(tǒng)、直流固態(tài)斷路器
(a)光觸發(fā)模塊 (b)光觸發(fā) SiC GTO 的測試封裝圖 1.2 光觸發(fā)模塊示意圖以及測試封裝圖目前,國內(nèi)外對 SiC GTO 的研究主要集中于其電氣參數(shù)方面,包括正向阻斷電壓和動態(tài)開關(guān)特性,以及針對 SiC GTO 進(jìn)行損耗性評估[29-31],文獻(xiàn)[32]中首介紹了一種基于 2.6kV SiC GTO 的光學(xué)觸發(fā)方式,這種門極驅(qū)動方式是在 SGTO 器件生產(chǎn)時,通過在 GTO 的陽極和門極間配置 19 個陽極射線管方式實現(xiàn)對SiC GTO 大約 600ns 的導(dǎo)通時間。文獻(xiàn)[33]中介紹了一種基于 12kV,100A SiC GT的光學(xué)觸發(fā)方式,圖 1.2 是相應(yīng)的光觸發(fā)模塊示意圖以及測試封裝圖。如圖 1(b)所示,該光學(xué)觸發(fā)模塊時封裝在 GTO 中,通過在 SiC GTO 的門極和陰極之間并聯(lián)一個小的光觸發(fā)導(dǎo)流晶閘管(2.2mm×2.2mm)為 SiC GTO 提供一個導(dǎo)通的電流,首次證明了 SiC GTO 在光觸發(fā)下具有 70ns 的快速開啟時間,不過這種觸發(fā)方式對工藝的要求高,電路復(fù)雜,集成難度高,是一種新型的驅(qū)動電路與 SGTO 的集成技術(shù),并不適用于常規(guī)的 SiC GTO 驅(qū)動。傳統(tǒng)的 Si 基 GTO 驅(qū)動方式一般為開環(huán)不控方式,即設(shè)定固定的直流驅(qū)動電流,這種方式會造成驅(qū)動損耗增
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號:2720214
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