NoC封裝掃描鏈設(shè)計(jì)及嵌入式內(nèi)核測(cè)試規(guī)劃研究
【圖文】:
圖2-12 q12710的信息圖ITC’02 測(cè)試基準(zhǔn)電路包含幾個(gè)重要信息:芯片名稱(SoC Name)、芯片包含的模塊數(shù)量(TotalModules)、每個(gè)模塊數(shù)據(jù)選項(xiàng)(Options)。每個(gè)模塊數(shù)據(jù)選項(xiàng)包含:位列的層數(shù)、輸入端口數(shù)、輸出端口數(shù)、雙向端口數(shù)、掃描鏈的數(shù)量:每條掃描鏈的長(zhǎng)度。該芯片名稱是 SoC Name:q12710,包含的模塊數(shù)量是:TotalModules:5,模塊數(shù)據(jù)選項(xiàng) Options Power 0 XY 0。由圖 2-12 可以了解到:q12710 芯片共包括 Module 0-Module 4 共 5 個(gè)模塊,其中 Module 2 中有 3784 個(gè)輸入端口,3379 個(gè)輸出端口,0 個(gè)雙向端口,共 4 條掃描鏈[36]。從上面的分析可以看出,雖然 ITC’02 基準(zhǔn)電路不給內(nèi)部電路實(shí)現(xiàn)的細(xì)節(jié),但它所給出的信息可以解決所研究的 SoC 和 NoC 測(cè)試中相關(guān)問(wèn)題,如測(cè)試封裝掃描鏈設(shè)計(jì)和測(cè)試規(guī)劃等,因此可以應(yīng)用在本文的測(cè)試中。
2 ]定義的隨機(jī)數(shù)獲得。圖3-1 在[-2,2]允許一個(gè)解圍繞或遠(yuǎn)離目標(biāo)值為了平衡算法開(kāi)發(fā)和探索能力,式(3-12)中正弦和余弦的范圍按照式(3-13)自適應(yīng)的改變。1ar a tG (3-13)式中,t 是當(dāng)前迭代次數(shù),G 是最大迭代次數(shù),,a 是一個(gè)常數(shù)。SCA 算法開(kāi)始優(yōu)化過(guò)程也是從隨機(jī)解集開(kāi)始。然后,算法保存迄今最優(yōu)解,并把它賦值給目標(biāo)點(diǎn),接著更新跟它相關(guān)的其它解。同時(shí),為了強(qiáng)調(diào)開(kāi)發(fā)能力隨著迭代次數(shù)的增加,更新正弦和余弦函數(shù)的范圍。當(dāng)達(dá)到最大迭代次數(shù)時(shí),SCA 算法終止。當(dāng)然也可以設(shè)定其它終止條件
【學(xué)位授予單位】:桂林電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號(hào)】:TN47
【參考文獻(xiàn)】
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