電解電容與光電耦合器的退化參數(shù)測量與分析
【圖文】:
電解電容器芯子結(jié)構(gòu)圖
電解電容的等效電路
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TN622
【參考文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 李君儒;高楊;何婉婧;蔡洵;黃振華;;介電層粗糙對(duì)電容式RF MEMS開關(guān)down態(tài)電容退化的影響[J];強(qiáng)激光與粒子束;2014年12期
2 沈崢嶸;時(shí)鐘;游曼;;加速退化試驗(yàn)方案優(yōu)化問題經(jīng)驗(yàn)參數(shù)估計(jì)方法[J];環(huán)境技術(shù);2014年02期
3 李洪玉;金雷;陳春霞;歐熠;張佳寧;謝俊聃;成精折;;晶體管輸出型光電耦合器長期儲(chǔ)存壽命研究[J];半導(dǎo)體光電;2014年02期
4 何建新;李繼紅;周X;劉靜;;基于Matlab編程實(shí)現(xiàn)Arrhenius模型壽命預(yù)測[J];裝備環(huán)境工程;2013年03期
5 楊少華;李坤蘭;;光電耦合器的長期貯存退化特性分析[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2013年01期
6 李享;李岱霖;葉雪榮;翟國富;;LED開關(guān)電源中鋁電解電容性能退化模型的研究[J];電源學(xué)報(bào);2012年06期
7 秦凡;韋高;;基于VISA庫及SCPI命令的儀器程控測量[J];現(xiàn)代電子技術(shù);2011年11期
8 鄭德強(qiáng);張正平;李海波;吳建國;徐靜;;加速退化試驗(yàn)技術(shù)研究、應(yīng)用與發(fā)展[J];裝備環(huán)境工程;2011年02期
9 孟猛;張延偉;王旭;;存在不穩(wěn)定失效現(xiàn)象光耦的失效分析研究[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2011年01期
10 王召斌;任萬濱;翟國富;;加速退化試驗(yàn)與加速壽命試驗(yàn)技術(shù)綜述[J];低壓電器;2010年09期
相關(guān)博士學(xué)位論文 前1條
1 李應(yīng)輝;晶體管輸出型光電耦合器輻照及其噪聲研究[D];電子科技大學(xué);2010年
相關(guān)碩士學(xué)位論文 前9條
1 關(guān)s,
本文編號(hào):2655616
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2655616.html