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電解電容與光電耦合器的退化參數(shù)測量與分析

發(fā)布時(shí)間:2020-05-09 04:49
【摘要】:戰(zhàn)略裝備的必要工況之一是長時(shí)間戰(zhàn)備值班。在組成裝備的部件和元器件中,鋁電解電容和光電耦合器是電源組件與數(shù)據(jù)傳輸組件的關(guān)鍵器件,擔(dān)負(fù)著裝備供電與數(shù)據(jù)隔離傳輸?shù)闹匾蝿?wù)。在長時(shí)間值班過程中,鋁電解電容和光電耦合器的性能將直接影響到裝備的整體性能。因此,獲取長期加電情況下的鋁電解電容和光電耦合器的參數(shù)退化情況對(duì)于在裝備設(shè)計(jì)階段提供設(shè)計(jì)參考和裝備維修階段提供維修建議都具有重要意義。本文研究電解電容和光電耦合器的退化參數(shù)測量與退化狀態(tài)建模問題。在分析電解電容和光電耦合器的退化機(jī)理和工作狀態(tài)基礎(chǔ)上,確定了兩種器件的測量方案,由于電解電容的工作狀態(tài)為電容的充放電過程,其工作狀況比較復(fù)雜,因此本文使用不同頻率的方波對(duì)電解電容進(jìn)行充放電實(shí)驗(yàn),模擬出電解電容的不同工作狀態(tài),研究電解電容在不同工作狀態(tài)下的退化情況;光電耦合器的工作狀況比較單一,本文將溫度作為加速退化實(shí)驗(yàn)的加速應(yīng)力,研究光電耦合器在持續(xù)加電下的退化情況。為測量出電解電容和光電耦合器的退化參數(shù),即電容值和電流傳輸比,本文基于Lab Windows/CVI搭建自動(dòng)測量系統(tǒng)。通過一個(gè)月的數(shù)據(jù)采集,得到了電解電容和光電耦合器的特征參數(shù)。針對(duì)電解電容退化數(shù)據(jù),本文采用多項(xiàng)式擬合與離散灰色理論模型的方法進(jìn)行分析,最終得到了電解電容在不同工作狀態(tài)下的退化狀態(tài)模型,并計(jì)算出了電解電容持續(xù)工作一年的相對(duì)退化量;針對(duì)光電耦合器的特征參數(shù),通過多項(xiàng)式擬合與回歸分析的方法得到了退化參數(shù)與溫度的關(guān)系,并由此建立光電耦合器工作在20℃時(shí)的退化狀態(tài)模型,從而得到了光電耦合器在20℃的環(huán)境下持續(xù)工作一年時(shí)間的相對(duì)退化量。
【圖文】:

電解電容與光電耦合器的退化參數(shù)測量與分析


電解電容器芯子結(jié)構(gòu)圖

電解電容與光電耦合器的退化參數(shù)測量與分析


電解電容的等效電路
【學(xué)位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TN622

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào):2655616


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