非晶鐵磁微絲磁場力顯微鏡探針制備及其應用
【圖文】:
哈爾濱工業(yè)大學工程碩士學位論文,在具體操作過程中磁力顯微鏡通常采用二次掃描(Two-Pa大部分商用磁場力顯微鏡系統(tǒng)所采用的技術。模式原理如圖 1-1 所示,探針在樣品表面掃描兩次。首先將過范德華力等近場作用實現(xiàn)第一次掃描,獲得并記錄樣品的著由第一次掃描獲得的樣品表面形貌并將探針提高 20-50n時探針與樣品間距離較遠,范德華力等短程作用力可以忽略作用力成為主要的信號來源,進而獲得相應的磁疇分布信息
力等近場作用實現(xiàn)第一次掃描,獲得并次掃描獲得的樣品表面形貌并將探針提樣品間距離較遠,,范德華力等短程作用為主要的信號來源,進而獲得相應的磁圖 1-1 磁場力顯微鏡二次掃描模式示意圖廣泛的應用在空氣、液體、真空、低溫磁疇分布,如圖 1-2 所示。
【學位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2019
【分類號】:TB383.1;TN16
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本文編號:2640979
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