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基于自外差激光線寬測(cè)量方法改進(jìn)的理論與實(shí)驗(yàn)研究

發(fā)布時(shí)間:2017-03-21 06:05

  本文關(guān)鍵詞:基于自外差激光線寬測(cè)量方法改進(jìn)的理論與實(shí)驗(yàn)研究,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:激光線寬或相干長(zhǎng)度是光頻傳遞,光纖傳感,精密光譜測(cè)量,激光雷達(dá)、測(cè)距以及遙感等研究領(lǐng)域的一項(xiàng)重要指標(biāo),對(duì)這些系統(tǒng)的噪聲性能、測(cè)量距離、精度和靈敏度等起著決定性作用。因此,對(duì)超窄激光線寬進(jìn)行高精度的測(cè)量成為激光器研究領(lǐng)域的一個(gè)熱點(diǎn)。目前,可采用的光譜線寬及激光頻率噪聲特性的測(cè)量手段中,自外差探測(cè)是一類(lèi)比較理想的測(cè)量方案。自外差探測(cè)不需要另一臺(tái)超窄且更加穩(wěn)定的光源用作參考,且激光的光譜線型可以直接觀測(cè)到,無(wú)需復(fù)雜的頻率轉(zhuǎn)換技巧,測(cè)量結(jié)果直接來(lái)源于其拍頻譜。然而,現(xiàn)有的自外差測(cè)量技術(shù)方案中,延遲自外差法(DSHI)測(cè)量分辨率極為有限,僅適合線寬不低于1kHz的激光線寬測(cè)量;盡管循環(huán)損耗補(bǔ)償延遲自外差法(LC-RDSHI)解決了DSHI測(cè)量分辨率較低的不足,但其測(cè)量精度較為有限,且系統(tǒng)調(diào)試比較繁雜,不利于實(shí)際應(yīng)用。本文從自外差線寬測(cè)量的基本原理出發(fā),分析了傳統(tǒng)LC-RDSHI線寬測(cè)量精度有限的根本原因。進(jìn)而提出了參數(shù)不敏感型LC-RDSHI以及Michelson型LC-RDSHI。相較于傳統(tǒng)LC-RDSHI,本文提出的兩種新方案具有更高的線寬測(cè)量精度,且系統(tǒng)調(diào)試過(guò)程更為簡(jiǎn)易。根據(jù)LC-RDSHI的數(shù)學(xué)模型,理論推導(dǎo)了兩種新方法的輸出拍頻功率譜,并結(jié)合軟件仿真,分析了系統(tǒng)參數(shù)變化以及延遲時(shí)間對(duì)拍頻信號(hào)功率譜的影響。同時(shí),討論了LC-RDSHI系統(tǒng)的多次循環(huán)干涉效應(yīng)、相對(duì)強(qiáng)度噪聲、光纖雙折射效應(yīng)以及頻率振動(dòng)等對(duì)激光線寬測(cè)量精度的影響。在理論分析基礎(chǔ)之上,我們搭建了相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)裝置,測(cè)量了三種方法的系統(tǒng)輸出功率譜,基于測(cè)量的功率譜比較了三種線寬測(cè)量方法的測(cè)量精度,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,相較于傳統(tǒng)LC-RDSHI,參數(shù)不敏感型LC-RDSHI以及Michelson型LC-RDSHI系統(tǒng)調(diào)試更為簡(jiǎn)易,同時(shí)系統(tǒng)輸出頻譜將多次循環(huán)干涉效應(yīng)引起的干擾信號(hào)頻譜從待測(cè)信號(hào)頻譜中分離出去,消除了環(huán)路有效增益、耦合器耦合效率等系統(tǒng)參數(shù)變化對(duì)輸出功率譜線型的影響,從而具有更高的線寬測(cè)量精度。此外,由于光纖存在雙折射效應(yīng),傳統(tǒng)LC-RDSHI與參數(shù)不敏感型LC-RDSHI系統(tǒng)偏振態(tài)極不穩(wěn)定,高階拍頻信號(hào)頻譜的信噪比較低。而Michelson型LC-RDSHI系統(tǒng)基于Michelson干涉儀結(jié)構(gòu)并采用法拉第鏡以及雙向摻鉺光纖放大器(Bi-EDFA),消除了光纖雙折射效應(yīng)的影響,系統(tǒng)偏振態(tài)具有高穩(wěn)定性,在測(cè)試條件允許的情況下,是最為理想的循環(huán)自外差超窄激光線寬測(cè)量方案。
【關(guān)鍵詞】:激光線寬測(cè)量 自外差法 拍頻功率譜 參數(shù)不敏感 系統(tǒng)偏振態(tài)
【學(xué)位授予單位】:中國(guó)科學(xué)院研究生院(國(guó)家授時(shí)中心)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類(lèi)號(hào)】:TN24
【目錄】:
  • 致謝3-4
  • 摘要4-5
  • Abstract5-11
  • 第一章 前言11-15
  • 1.1 研究背景11-12
  • 1.2 研究現(xiàn)狀12-13
  • 1.3 論文主要工作及結(jié)構(gòu)13-15
  • 第二章 激光線寬理論15-22
  • 2.1 肖洛—湯斯線寬15-18
  • 2.1.1 矢量理論16-17
  • 2.1.2 RLC振蕩電路模型17-18
  • 2.2 超過(guò)肖洛湯斯線寬18-22
  • 2.2.1 K因子展寬18-19
  • 2.2.2 K'因子展寬19
  • 2.2.3 a因子展寬19-20
  • 2.2.4 K'因子展寬20
  • 2.2.5 弛豫振蕩20
  • 2.2.6 非均勻展寬20-22
  • 第三章 線寬測(cè)量技術(shù)22-45
  • 3.1 外差探測(cè)22-24
  • 3.2 光頻鑒別器24-26
  • 3.3 自外差探測(cè)26-45
  • 3.3.1 延遲自外差法26-32
  • 3.3.1.1 M-Z型DSHI28-29
  • 3.3.1.2 Michelson型DSHI29-31
  • 3.3.1.3 光纖延時(shí)線對(duì)DSHI的影響31-32
  • 3.3.2 循環(huán)損耗補(bǔ)償延遲自外差法32-45
  • 3.3.2.1 相對(duì)強(qiáng)度噪聲35-36
  • 3.3.2.2 光纖雙折射效應(yīng)36-40
  • 3.3.2.3 頻率穩(wěn)定性的影響40-42
  • 3.3.2.41/f噪聲的影響42-45
  • 第四章 兩種改進(jìn)循環(huán)自外差法的理論分析45-55
  • 4.1 系統(tǒng)參數(shù)不敏感型循環(huán)延遲自外差法系統(tǒng)輸出功率譜45-49
  • 4.1.1 系統(tǒng)參數(shù)不敏感型循環(huán)延遲自外差法拍頻信號(hào)功率譜仿真48-49
  • 4.2 Michelson型干涉儀結(jié)構(gòu)的循環(huán)自外差法系統(tǒng)輸出功率譜49-55
  • 4.2.1 Michelson型循環(huán)自外差法拍頻信號(hào)功率譜仿真及分析52-55
  • 第五章 循環(huán)損耗補(bǔ)償延遲自外差法實(shí)驗(yàn)55-74
  • 5.1 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)55-60
  • 待測(cè)激光器56
  • 頻移器56-57
  • 光纖放大器(EDFA)57-58
  • 光電探測(cè)器58-60
  • 5.2 系統(tǒng)設(shè)計(jì)及優(yōu)化60-62
  • 5.2.1 光功率控制60
  • 5.2.2 非線性效應(yīng)60-61
  • 5.2.3 EDFA的附加白噪聲61-62
  • 5.2.4 偏振控制62
  • 5.2.5 環(huán)境干擾控制62
  • 5.3 信號(hào)處理及結(jié)果分析62-74
  • 5.3.1 功率譜測(cè)量63-67
  • 5.3.2 NKT激光器線寬測(cè)量67-74
  • 5.3.2.1 10dB直接測(cè)量67-70
  • 5.3.2.2 Voigt擬合70-74
  • 第六章 結(jié)論及下步工作74-76
  • 6.1 結(jié)論74
  • 6.2 下步工作74-76
  • 參考文獻(xiàn)76-80
  • 作者簡(jiǎn)介及在學(xué)期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與研究成果80

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  本文關(guān)鍵詞:基于自外差激光線寬測(cè)量方法改進(jìn)的理論與實(shí)驗(yàn)研究,,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。



本文編號(hào):259143

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