【摘要】：內部雜散輻射抑制水平是評價紅外成像系統(tǒng)的一項重要指標。由于內部雜散輻射與環(huán)境溫度有關,其測量過程必須在多個環(huán)境溫度下進行,存在成本高、時間長且實驗設備要求高等缺點。針對上述問題,通過建立多積分時間定標模型,研究環(huán)境溫度對內部雜散輻射的影響,提出一種采用環(huán)境溫度測量制冷型紅外成像系統(tǒng)內部雜散輻射的方法。該方法通過對制冷型紅外探測器定標,獲取探測器內部因素對系統(tǒng)輸出的影響,結合系統(tǒng)在某一環(huán)境溫度下的定標結果解算系統(tǒng)內部雜散輻射與環(huán)境溫度的定量關系,進而計算系統(tǒng)在任意環(huán)境溫度和積分時間下的內部雜散輻射。通過輻射定標實驗驗證該方法的有效性,實驗結果表明該方法可以實現(xiàn)對制冷型紅外成像系統(tǒng)內部雜散輻射的高精度測量。

【參考文獻】

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1 趙宇宸;許艷軍;沙巍;張立國;任建岳;;天基紅外成像光學系統(tǒng)雜散光分析與抑制[J];中國激光;2015年10期

2 常松濤;孫志遠;張堯禹;朱瑋;;制冷型紅外成像系統(tǒng)內部雜散輻射測量方法[J];物理學報;2015年05期

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本文編號：2578886