【摘要】：內(nèi)部雜散輻射抑制水平是評價(jià)紅外成像系統(tǒng)的一項(xiàng)重要指標(biāo)。由于內(nèi)部雜散輻射與環(huán)境溫度有關(guān),其測量過程必須在多個(gè)環(huán)境溫度下進(jìn)行,存在成本高、時(shí)間長且實(shí)驗(yàn)設(shè)備要求高等缺點(diǎn)。針對上述問題,通過建立多積分時(shí)間定標(biāo)模型,研究環(huán)境溫度對內(nèi)部雜散輻射的影響,提出一種采用環(huán)境溫度測量制冷型紅外成像系統(tǒng)內(nèi)部雜散輻射的方法。該方法通過對制冷型紅外探測器定標(biāo),獲取探測器內(nèi)部因素對系統(tǒng)輸出的影響,結(jié)合系統(tǒng)在某一環(huán)境溫度下的定標(biāo)結(jié)果解算系統(tǒng)內(nèi)部雜散輻射與環(huán)境溫度的定量關(guān)系,進(jìn)而計(jì)算系統(tǒng)在任意環(huán)境溫度和積分時(shí)間下的內(nèi)部雜散輻射。通過輻射定標(biāo)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證該方法的有效性,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法可以實(shí)現(xiàn)對制冷型紅外成像系統(tǒng)內(nèi)部雜散輻射的高精度測量。

【參考文獻(xiàn)】

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2 常松濤;孫志遠(yuǎn);張堯禹;朱瑋;;制冷型紅外成像系統(tǒng)內(nèi)部雜散輻射測量方法[J];物理學(xué)報(bào);2015年05期

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本文編號：2578886