【摘要】：當(dāng)前芯片參數(shù)成品率研究主要局限于單一性能指標(biāo)成品率估算或?qū)Χ鄠�(gè)單性能指標(biāo)成品率進(jìn)行均衡優(yōu)化.針對(duì)此類方法易造成參數(shù)成品率缺失的問(wèn)題,本文提出一種基于Copula理論的芯片多元參數(shù)成品率估算方法.該方法首先針對(duì)漏電功耗及芯片時(shí)延性能指標(biāo),構(gòu)建具有隨機(jī)相關(guān)性的漏電功耗及芯片時(shí)延模型;然后利用鞍點(diǎn)線抽樣方法對(duì)漏電功耗及芯片時(shí)延的邊緣分布概率進(jìn)行求解;最后根據(jù)Copula理論得到準(zhǔn)確的芯片多元參數(shù)成品率估算結(jié)果.仿真結(jié)果表明,相較于蒙特卡羅仿真,本文方法具有較高的仿真效率,仿真時(shí)間減少了12%以上,而且在不同國(guó)際電路與系統(tǒng)研討會(huì)(International Symposium on Circuits and Systems,ISCAS)基準(zhǔn)電路下,該方法與蒙特卡羅仿真結(jié)果的相對(duì)誤差均保持在9%以內(nèi),能夠在任意性能指標(biāo)約束下,對(duì)芯片多元參數(shù)成品率進(jìn)行有效估算,可為芯片設(shè)計(jì)人員提供同時(shí)考慮多個(gè)性能指標(biāo)的參數(shù)成品率信息.

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1 黃明晟;李永紅;敖亮;;基于故障相依的可靠性評(píng)估方法[J];航空標(biāo)準(zhǔn)化與質(zhì)量;2009年06期

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本文編號(hào)：2566704