700V功率VDMOS設計
發(fā)布時間:2019-09-24 12:22
【摘要】:功率MOS場效應晶體管是近年來功率器件領域發(fā)展速度相當快的一種新型器件。垂直雙擴散MOS管(VDMOS)作為功率MOS的重要一員,由于其輸入阻抗高、開關速度快、工作頻率高、驅(qū)動功率低、頻率特性好、熱穩(wěn)定性好等特點,為電力電子領域不斷高速發(fā)展提供強大支撐力量,大量應用于開關電源、車用電子、光伏照明等市場。隨著VDMOS應用領域的不斷擴展,VDMOS的低壓與中高壓產(chǎn)品也越來越多。對于低壓領域的VDMOS,導通電阻越低,功耗越小,市場競爭力越強;而對于中高壓VDMOS而言,器件耐壓越高,對產(chǎn)品設計的要求就越高,投入的成本也會相應增大,想要得到更強的市場競爭力就越難。本文首先介紹功率半導體器件的發(fā)展歷程與應用頻率和電壓范圍,并對功率VDMOS的發(fā)展與現(xiàn)狀作了詳細介紹。緊接著介紹了700V功率VDMOS的設計過程;赟entaurus TCAD仿真平臺,本文設計擊穿電壓700V,導通電阻2.4Ω、3.0Ω2、3.3Ω2,閾值電壓2~4V的功率VDMOS.在生產(chǎn)工藝有一定限制的情況下,通過仿真優(yōu)化元胞結構,減小導通電阻。本文的終端結構是在一款失效終端基礎上改進并重新優(yōu)化設計的。首先,通過電測、微光顯微鏡(EMMI)漏電流定位和掃描電子顯微鏡(SEM)形貌分析等手段,對一款700V場限環(huán)終端結構進行失效分析。通過大量仿真驗證,研究其電流密度、電場、靜電勢和空間電荷等仿真模型,進一步發(fā)現(xiàn)造成耐壓不足的場板(FP)結構問題,并研究確定了有效的改進辦法。最終,經(jīng)過優(yōu)化得到一款耐壓770V、硅表面電場2.0E5V · cm-1左右、分布非常均勻可靠的終端結構。最后,本文對700V功率VDMOS進行版圖設計。在版圖設計前,對芯片元胞面積進行估算;在版圖完成后,又對這三顆導通電阻不同芯片的元胞面積進行準確計算。通過對流片結果導通電阻的分析,發(fā)現(xiàn)其平均值與版圖計算值吻合度均超過96%,表明了本文導通電阻設計方法、仿真參數(shù)的可靠性以及版圖完成后對導通電阻計算的準確性。
【圖文】:
圖2-1邋VDMOS三維結構示意圖逡逑功率VDMOS是由多個元胞并聯(lián)而成,常用元胞結構有:條形元胞、方形元胞、逡逑六角形元胞等,,本文將在第四章進行詳細討論。圖2-1是方形元胞結構VDMOS的三逡逑維示意圖,并聯(lián)的元胞結構可以增大整個器件的導電溝道長度L,提高器件的電流能逡逑力。但是必須保證每個元胞都必須是可靠的,否則一個元胞的失效就會導致整個器件逡逑失效。同時,為了將外延層底部的耗盡層邊界平滑收斂到鞋表面,提高器件表面的擊逡逑穿電壓,必須在元胞區(qū)域的外圍加上終端結構。逡逑根據(jù)導電溝道的不同,MOSFET可分為P溝道MOSFET和n溝道MOSFET。n溝逡逑道MOSFET在P區(qū)形成n型導電溝道,載流子類型為電子;p溝道MOSFET在n區(qū)形逡逑成P型導電溝道,載流子類型為空穴。由于電子的遷移率^1?是空穴遷移率^^卩的3倍,逡逑為了減小溝道電阻
、三象限都可以耐壓D但為了抑制寄生NPN管的作用,n+源區(qū)與P區(qū)處于短路狀態(tài)。逡逑因此,VDMOS在第一象限工作時承受高壓,在第三象限工作時僅相當于一個正偏的逡逑二極管。圖2-1為n型功率VDMOS的I-V曲線(又稱輸出特性曲線),Vd表示漏源逡逑電壓,Vg表示柵源電壓。當V(i—定時,隨著VD的變化,此曲線可分為六個區(qū)域:逡逑個逡逑,6)準飽和區(qū)4)雪崩擊穿逡逑2)歐姆區(qū)邋/邋邐邐邋-逡逑A/p邐3卿區(qū)個逡逑Vf(-Va)M邋^邋\f邐/邐V肪邋Vd逡逑2邋士邋/邐1)截止區(qū)逡逑i邋/邐Vo<邋Vth逡逑圖2-1邋n溝道功率VDMOS的I-V曲線[i5]逡逑1)截止區(qū):此時VG^Vth,雖然VD逐漸增大,但還沒有形成導電溝道,電流趨近逡逑于零;逡逑2)歐姆區(qū)(或稱線性區(qū)):此時VG>Vth、VD<VG-VTH'在挪氧化層下方ii+區(qū)與n-逡逑外延層中間形成導電溝道,如圖2-2邋a)。對于低電壓Vd,功率VDMOS的I-V特性類逡逑似于一個受柵極電壓調(diào)制的線性電阻,只要確定柵極電壓Vg的大小就可以得到此時的逡逑導通電阻值,逡逑3)飽和區(qū):此時Vg>Vth、Vi^Vg-Vth.導電溝道被夾斷,如圖2-2邐b)。p區(qū)與逡逑n-外延構成的PN結所形成的空間電荷區(qū)也隨著漏電壓Vd的增大逐漸展寬
【學位授予單位】:西南交通大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN386
本文編號:2540868
【圖文】:
圖2-1邋VDMOS三維結構示意圖逡逑功率VDMOS是由多個元胞并聯(lián)而成,常用元胞結構有:條形元胞、方形元胞、逡逑六角形元胞等,,本文將在第四章進行詳細討論。圖2-1是方形元胞結構VDMOS的三逡逑維示意圖,并聯(lián)的元胞結構可以增大整個器件的導電溝道長度L,提高器件的電流能逡逑力。但是必須保證每個元胞都必須是可靠的,否則一個元胞的失效就會導致整個器件逡逑失效。同時,為了將外延層底部的耗盡層邊界平滑收斂到鞋表面,提高器件表面的擊逡逑穿電壓,必須在元胞區(qū)域的外圍加上終端結構。逡逑根據(jù)導電溝道的不同,MOSFET可分為P溝道MOSFET和n溝道MOSFET。n溝逡逑道MOSFET在P區(qū)形成n型導電溝道,載流子類型為電子;p溝道MOSFET在n區(qū)形逡逑成P型導電溝道,載流子類型為空穴。由于電子的遷移率^1?是空穴遷移率^^卩的3倍,逡逑為了減小溝道電阻
、三象限都可以耐壓D但為了抑制寄生NPN管的作用,n+源區(qū)與P區(qū)處于短路狀態(tài)。逡逑因此,VDMOS在第一象限工作時承受高壓,在第三象限工作時僅相當于一個正偏的逡逑二極管。圖2-1為n型功率VDMOS的I-V曲線(又稱輸出特性曲線),Vd表示漏源逡逑電壓,Vg表示柵源電壓。當V(i—定時,隨著VD的變化,此曲線可分為六個區(qū)域:逡逑個逡逑,6)準飽和區(qū)4)雪崩擊穿逡逑2)歐姆區(qū)邋/邋邐邐邋-逡逑A/p邐3卿區(qū)個逡逑Vf(-Va)M邋^邋\f邐/邐V肪邋Vd逡逑2邋士邋/邐1)截止區(qū)逡逑i邋/邐Vo<邋Vth逡逑圖2-1邋n溝道功率VDMOS的I-V曲線[i5]逡逑1)截止區(qū):此時VG^Vth,雖然VD逐漸增大,但還沒有形成導電溝道,電流趨近逡逑于零;逡逑2)歐姆區(qū)(或稱線性區(qū)):此時VG>Vth、VD<VG-VTH'在挪氧化層下方ii+區(qū)與n-逡逑外延層中間形成導電溝道,如圖2-2邋a)。對于低電壓Vd,功率VDMOS的I-V特性類逡逑似于一個受柵極電壓調(diào)制的線性電阻,只要確定柵極電壓Vg的大小就可以得到此時的逡逑導通電阻值,逡逑3)飽和區(qū):此時Vg>Vth、Vi^Vg-Vth.導電溝道被夾斷,如圖2-2邐b)。p區(qū)與逡逑n-外延構成的PN結所形成的空間電荷區(qū)也隨著漏電壓Vd的增大逐漸展寬
【學位授予單位】:西南交通大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:TN386
【引證文獻】
相關碩士學位論文 前2條
1 張麗妮;新型絕緣柵型光電導開關的器件設計與優(yōu)化[D];西安理工大學;2018年
2 趙爭夕;60V功率UMOSFET特性研究及優(yōu)化[D];西南交通大學;2018年
本文編號:2540868
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