發(fā)布時(shí)間：2019-05-16 23:18

【摘要】：了解電磁干擾(EMI)在片上電源分配網(wǎng)絡(luò)中的分布,能為研究芯片電磁抗擾性提供重要的信息。提出了一種感應(yīng)陣列用于測(cè)量EMI的分布。利用感應(yīng)陣列在電源上產(chǎn)生周期性噪聲并將其頻譜作為反饋信號(hào),將受測(cè)電路的片上電源分配網(wǎng)絡(luò)當(dāng)作反饋信號(hào)的傳輸路徑,電源引腳作為觀測(cè)接入點(diǎn)。這種分布測(cè)量方法不需要額外獨(dú)立的供電網(wǎng)絡(luò)為測(cè)量電路供電,不會(huì)引入額外的芯片引腳,完全由數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)單元組成,實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單。在Global Foundry 180 nm工藝下設(shè)計(jì)完成了感應(yīng)陣列,并通過(guò)晶體管級(jí)仿真和電路實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了方法的可行性。
[Abstract]:Understanding the distribution of electromagnetic interference (EMI) in on-chip power distribution network can provide important information for the study of electromagnetic immunity of chips. An induction array is proposed to measure the distribution of EMI. The induction array is used to generate periodic noise on the power supply and its spectrum is used as the feedback signal, the on-chip power distribution network of the measured circuit is used as the transmission path of the feedback signal, and the power pin is used as the observation access point. This distributed measurement method does not need additional independent power supply network to supply power to the measurement circuit, and does not introduce additional chip pins. It is completely composed of digital standard units and is simple to implement. The induction array is designed under Global Foundry 180 nm process, and the feasibility of the method is verified by transistor level simulation and circuit experiment.
【作者單位】： 中山大學(xué)電子與信息工程學(xué)院;
【分類號(hào)】：TN40

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