發(fā)布時(shí)間：2019-03-18 21:34

【摘要】：隨著VLSI技術(shù)的不斷發(fā)展,集成電路所需的測試數(shù)據(jù)量也在不斷增加,給測試帶來了一系列問題,對自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)的存儲(chǔ)容量提出了挑戰(zhàn),有限的帶寬延長了測試數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間。為此,提出了一種針對相同數(shù)據(jù)位的測試數(shù)據(jù)壓縮及解壓算法。數(shù)據(jù)位為全0或全1的數(shù)據(jù)塊,編碼壓縮為僅為兩位的控制位和編碼位,與同類經(jīng)典方案相比,實(shí)驗(yàn)表明該方案有效提高了測試數(shù)據(jù)壓縮率,平均壓縮率達(dá)到63.58%,且編碼算法簡單。
[Abstract]:With the continuous development of VLSI technology, the amount of test data required for integrated circuits is increasing, which brings a series of problems to the test, and challenges the storage capacity of the automatic test equipment (ATE). The limited bandwidth extends the test data transmission time. Therefore, a test data compression and decompression algorithm for the same data bit is proposed. When the data bit is all 0 or 1, it is compressed into control bit and coding bit with only two bits. Compared with the classical scheme of the same kind, the experimental results show that this scheme effectively improves the compression ratio of test data, and the average compression rate reaches 63.58%. And the coding algorithm is simple.
【作者單位】： 巢湖學(xué)院;
【基金】：巢湖學(xué)院校級科研資助項(xiàng)目(項(xiàng)目編號(hào):XLY-201409) 安徽省省級教學(xué)研究項(xiàng)目(項(xiàng)目編號(hào):2014jyxm331) 安徽省省級特色專業(yè)計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)省級特色專業(yè)(項(xiàng)目編號(hào):2013tszy020) 安徽省高校省級教學(xué)團(tuán)隊(duì)(項(xiàng)目編號(hào):2016jxtd083)
【分類號(hào)】：TN407

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本文編號(hào)：2443262