【摘要】：隨著紅外焦平面探測(cè)器廣泛的應(yīng)用,在實(shí)際成像中會(huì)出現(xiàn)一些新的問題。本文針對(duì)某款256×256規(guī)格的探測(cè)器成像出現(xiàn)重影問題,制定了相應(yīng)的讀出電路成像測(cè)試分析方案。從讀出電路通道、主時(shí)鐘頻率、目標(biāo)信號(hào)強(qiáng)度等方面全面分析該問題與讀出電路的關(guān)系,并定位了重影問題的原因。
[Abstract]:With the wide application of infrared focal plane detectors, there will be some new problems in practical imaging. In this paper, a corresponding readout circuit imaging test and analysis scheme is proposed to solve the problem of a 256 脳 256 detector imaging. The relationship between the problem and the readout circuit is analyzed from the aspects of readout circuit channel, master clock frequency and target signal intensity, and the cause of the problem is located.
【作者單位】： 華北光電技術(shù)研究所;
【分類號(hào)】：TN215

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本文編號(hào)：2430698