在光學(xué)遙感領(lǐng)域,遙感儀器有著向小型化、輕量化和集成化發(fā)展的趨勢(shì),采用同一光路上的雙色探測(cè)技術(shù),是適應(yīng)這一發(fā)展趨勢(shì)的有力技術(shù)手段之一。雙色濾光片是實(shí)現(xiàn)雙色探測(cè)技術(shù)的重要光譜元件,它能在同一通光孔徑內(nèi)的同一幾何點(diǎn)上通過(guò)兩個(gè)光譜通道的光學(xué)能量,并完全抑制其它光譜。本文的主要目標(biāo),是研制出初步滿足空間遙感應(yīng)用要求的紅外雙色濾光片樣品,并對(duì)其低溫光譜進(jìn)行研究,得到低溫下的準(zhǔn)確光譜。對(duì)于任何干涉式濾光片的研制,其首要任務(wù)是設(shè)計(jì)出合理的多層干涉膜的膜系。濾光片膜系設(shè)計(jì)的方法有多種,例如自動(dòng)優(yōu)化設(shè)計(jì)、緩沖層和組合膜系設(shè)計(jì)、加厚間隔層的Fabry-Perot(F-P)膜系設(shè)計(jì)、多次重復(fù)雙峰結(jié)構(gòu)F-P膜系設(shè)計(jì),以及具有分形結(jié)構(gòu)的F-P膜系設(shè)計(jì)等,但它們并不適合于進(jìn)行中心波長(zhǎng)在2.95μm、4.41μm,帶寬均為中心波長(zhǎng)0.09倍的雙色濾光片的設(shè)計(jì)。因此提出了一種基于組合法F-P的雙色濾光片設(shè)計(jì)方法。這種方法可以互不干擾的對(duì)雙色濾光片的兩個(gè)通帶進(jìn)行獨(dú)立設(shè)計(jì),通帶寬度和位置方便調(diào)控,有效解決了較寬通帶和較大通道間距的雙色濾光片的設(shè)計(jì)問(wèn)題。并且設(shè)計(jì)出的膜系和其它膜系設(shè)計(jì)方法相比更為簡(jiǎn)潔,有較強(qiáng)的可實(shí)施性。論文介紹了膜層沉積的方法和主要工藝。膜厚監(jiān)控采用了適用于單波長(zhǎng)直接光學(xué)監(jiān)控的一種光學(xué)極值比例的監(jiān)控策略。實(shí)施這種監(jiān)控策略的主要原因是為了確保有較大消光系數(shù)材料Ge在該波段紅外區(qū)域有足夠的監(jiān)控精度。針對(duì)這種監(jiān)控策略,進(jìn)行了膜系的調(diào)整,設(shè)計(jì)的膜層總數(shù)為34層,并設(shè)計(jì)出了能夠滿足監(jiān)控策略要求的監(jiān)控曲線。按照此監(jiān)控曲線進(jìn)行了膜層的沉積,最終研制出了滿足要求的樣品,其測(cè)試光譜顯示:雙色濾光片短波通道平均透過(guò)率大于84%,長(zhǎng)波通道的平均透過(guò)率大于88%;兩個(gè)通道的四個(gè)通帶邊緣的陡度分別為:1.4%、2.8%、1.9%和1.7%。膜層厚度的誤差是導(dǎo)致樣品實(shí)測(cè)光譜曲線和理論設(shè)計(jì)不一致的主要原因。為此,分析了誤差的來(lái)源,以及采用透過(guò)率監(jiān)控膜厚而產(chǎn)生誤差的機(jī)理。分析了膜系整體存在隨機(jī)誤差時(shí),對(duì)不同類型膜系光譜的影響,以及特定膜層厚度誤差對(duì)膜系光譜性能的影響。通帶頂部的透過(guò)率是最關(guān)鍵的性能指標(biāo),論文采用通帶頂部最大透過(guò)率偏差以及通帶頂部平均透過(guò)率偏差,來(lái)評(píng)估不同膜層誤差對(duì)于濾光片光譜性能的影響。對(duì)沉積于基片兩側(cè)的組成雙色濾光片的單通道濾光膜進(jìn)行了隨機(jī)光譜誤差分析,并結(jié)合樣品實(shí)測(cè)光譜進(jìn)行了雙色濾光片的光譜誤差分析。紅外雙色濾光片是在低溫條件下使用的,因此對(duì)其低溫特性進(jìn)行了研究。介紹了低溫光譜測(cè)試裝置,通過(guò)對(duì)單層Ge和SiO膜的常溫和低溫(100K)測(cè)試光譜,獲得其光學(xué)常數(shù)以及膜厚從常溫到低溫的變化情況,計(jì)算得到了Ge和SiO膜層的光學(xué)常數(shù)的溫度系數(shù)。結(jié)合具體膜系,得到低溫(100K)條件下的光譜漂移量,結(jié)合濾光片樣品的多次生長(zhǎng)和測(cè)試工作,為不同類型和技術(shù)要求紅外雙色濾光片低溫光譜的確立,提供了參考依據(jù)。
【學(xué)位授予單位】:中國(guó)科學(xué)院大學(xué)(中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2017
【分類號(hào)】:TN21
文章目錄
致謝
摘要
ABSTRACT
1 引言
1.1 雙色或多色濾光器件
1.1.1 輪轉(zhuǎn)濾光片組件
1.1.2 集成多個(gè)通道的陣列濾光片
1.1.3 可調(diào)制的濾光器件
1.1.4 多色或雙色干涉濾光片
1.2 雙色探測(cè)器和雙色濾光片組合的紅外探測(cè)技術(shù)
1.2.1 雙色探測(cè)技術(shù)的應(yīng)用
1.2.2 紅外雙色探測(cè)器
1.2.3 紅外雙色濾光片
1.3 本論文工作概述
1.3.1 本論文工作的意義
1.3.2 本論文主要內(nèi)容
2 雙色濾光片的設(shè)計(jì)
2.1 自動(dòng)優(yōu)化設(shè)計(jì)
2.2 緩沖層和組合膜系設(shè)計(jì)
2.3 F-P膜系為基礎(chǔ)的設(shè)計(jì)
2.3.1 波峰的多次重復(fù)
2.3.2 厚間隔層的F-P膜系
2.3.3 分形結(jié)構(gòu)的F-P膜系
2.4 基于組合F-P膜系的雙色濾光片設(shè)計(jì)
2.4.1 基礎(chǔ)F-P膜系的確定
2.4.2 雙色濾光片的設(shè)計(jì)
2.4.3 通道帶寬的調(diào)整
2.4.4 通道間距離分析
2.5 小結(jié)
3 雙色濾光片的制備
3.1 薄膜沉積設(shè)備介紹
3.2 研制工藝
3.2.1 膜層沉積工藝
3.2.2 工藝要求
3.2.3 工藝流程
3.3 膜層的光學(xué)特性
3.3.1 光學(xué)常數(shù)測(cè)試方法
3.3.2 光學(xué)常數(shù)測(cè)試結(jié)果
3.3.3 膜層光能損耗
3.4 膜厚監(jiān)控方法
3.4.1 膜厚的晶振控制
3.4.2 膜厚的光學(xué)監(jiān)控
3.4.3 其它監(jiān)控方法
3.5 雙色濾光片工藝實(shí)現(xiàn)
3.5.1 用于實(shí)際監(jiān)控的膜系設(shè)計(jì)
3.5.2 確定監(jiān)控方法
3.5.3 監(jiān)控策略分析
3.5.4 監(jiān)控實(shí)施和實(shí)際的膜層沉積效果
3.6 小結(jié)
4 膜厚誤差分析
4.1 誤差來(lái)源
4.1.1 厚度誤差
4.1.2 光學(xué)常數(shù)誤差
4.2 監(jiān)控誤差導(dǎo)致膜厚誤差的機(jī)理
4.3 誤差對(duì)設(shè)計(jì)膜系的光譜性能影響
4.3.1 隨機(jī)誤差光譜影響
4.3.2 不同膜層對(duì)膜系整體光譜的影響
4.4 雙色濾光膜系的誤差分析
4.5 小結(jié)
5 濾光片低溫光譜研究
5.1 溫度對(duì)膜層材料物理特性影響
5.2 光學(xué)常數(shù)溫度特性測(cè)試方法
5.3 低溫光譜測(cè)試設(shè)備
5.4 單層膜低溫光譜測(cè)試
5.5 膜層材料的低溫光學(xué)常數(shù)擬合
5.6 雙色濾光片低溫光譜模擬
5.7 小結(jié)
6 總結(jié)與展望
6.1 總結(jié)
6.1.1 研究過(guò)程
6.1.2 主要結(jié)果
6.1.3 主要?jiǎng)?chuàng)新點(diǎn)
6.2 展望
參考文獻(xiàn)
作者簡(jiǎn)介及在學(xué)期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與研究
【相似文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):
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