梯度鋁鎵氮緩沖層對氮化鎵外延層性質(zhì)的影響
[Abstract]:Aluminum nitride buffer layer was grown on (0001) surface of silicon carbide substrate by metal organic chemical vapor deposition system. The growth temperature and ammonia flow rate of the buffer layer were changed by changing the Al_xGa_ _ (1-x) N _ (x) O _ (0.8) N _ (0.5) N _ (1-x) N _ (0.5) N buffer layer. High quality gallium nitride epitaxial layer was prepared. The epitaxial layers of gallium nitride were characterized by X-ray diffraction, atomic force microscopy, photoluminescence and Raman spectroscopy respectively. The experimental results show that the crystal quality, surface morphology and optical quality of the samples are improved significantly with the decrease of tensile stress in the epitaxial layer of gallium nitride. Under the optimal growth conditions of the gradient aluminum-gallium nitrogen buffer layer, the stress value of the gallium nitride epitaxial layer is the smallest. The half-width of the rocking curve of gallium nitride (0002) and (1012) is 191 arcsec and 243 arcsec, respectively. The density of screw dislocation and edge dislocation are 7 脳 10 ~ (-2) and 3.1 脳 10 ~ (-8) cm ~ (-2), respectively. The surface roughness of the sample is 0.381 nm.. The results show that the gradient aluminum-gallium nitrogen buffer layer can change the stress state of the gallium nitride epitaxial layer and improve the crystal quality of the gan epitaxial layer.
【作者單位】: 集成光電子國家重點聯(lián)合實驗室吉林大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(61274023,61106003,61376046,61674068) 國家重點研發(fā)計劃(2016YFB0400103) 吉林省科技發(fā)展計劃(20130204032GX,20150519004JH,20160101309JC) 教育部新世紀(jì)人才計劃(NCET13-0254)資助項目~~
【分類號】:TN304
【相似文獻】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 許晟瑞;段煥濤;郝躍;張進城;張金鳳;倪金玉;胡仕剛;李志明;;(1■02)r面藍寶石生長的(11■0)a面氮化鎵研究[J];西安電子科技大學(xué)學(xué)報;2009年06期
2 鄭冬冬;;2011年GaN LED市場有望增長38%達108億美元[J];半導(dǎo)體信息;2011年04期
3 J.I.Pankove,E.R.Levin,張志舜;用掃描電子顯微鏡對氮化鎵的研究[J];國外發(fā)光與電光;1977年02期
4 ;氮化鎵研究綜述[J];激光與光電子學(xué)進展;1997年04期
5 韓培德,劉祥林,王曉暉,汪度,陸大成,王占國;氮化鎵/藍寶石異質(zhì)結(jié)構(gòu)中極性的研究(英文)[J];發(fā)光學(xué)報;2001年S1期
6 袁明文;發(fā)展氮化鎵集成電路的考慮[J];微納電子技術(shù);2003年06期
7 黃萍,薛成山,李秀琴,魏琴琴;管式電爐合成氮化鎵晶粒的研究[J];微納電子技術(shù);2003年11期
8 李忠,魏芹芹,楊利,薛成山;氮化鎵薄膜的研究進展[J];微細加工技術(shù);2003年04期
9 鄭冬冬;;氮化鎵極性控制技術(shù)[J];半導(dǎo)體信息;2003年06期
10 程文芳;;雷聲公司氮化鎵半導(dǎo)體技術(shù)通過關(guān)鍵測試[J];半導(dǎo)體信息;2007年05期
相關(guān)會議論文 前10條
1 陳隆建;田青禾;穆劍聲;;氮化鎵發(fā)光二極體之緩沖層技術(shù)的最新發(fā)展[A];海峽兩岸第十五屆照明科技與營銷研討會專題報告暨論文集[C];2008年
2 陳振;劉祥林;王曉暉;陸大成;袁海榮;韓培德;汪度;王占國;;(1102)面藍寶石襯底上生長氮化鎵研究[A];2000年材料科學(xué)與工程新進展(下)——2000年中國材料研討會論文集[C];2000年
3 徐凱宇;唐s,
本文編號:2273090
本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/2273090.html