【摘要】：因PCB上微帶線(MSL)與外界電磁能量耦合而生成感應(yīng)電流(Current),會(huì)對(duì)敏感器件造成耦合傷害。而目前對(duì)此研究的關(guān)注度不夠,故以帶拐角MSL的PCB板內(nèi)置于開孔屏蔽腔為研究對(duì)象,以Current計(jì)算為主要切入點(diǎn),進(jìn)行多參數(shù)耦合特性計(jì)算。先建立相應(yīng)數(shù)值模型并驗(yàn)證建模方法有效性后,外置平面波激勵(lì)源,利用有限元法考察不同計(jì)算位置、有無(wú)屏蔽腔、MSL夾角大小及拐角補(bǔ)償?shù)葏?shù)變化對(duì)電流的影響。結(jié)果表明:直MSL上不同計(jì)算位置對(duì)Current影響不大,其數(shù)值都要比MSL彎折時(shí)要大,兩者差值隨頻率增加而逐漸減小;諧振點(diǎn)處腔體抑制效果會(huì)被弱化甚至完全失效;MSL與電場(chǎng)E平行放置時(shí),跡線需布成短線,MSL與電場(chǎng)E垂直放置時(shí),跡線可布成長(zhǎng)線;MSL寬度增加,電流數(shù)值會(huì)增加但趨勢(shì)減緩。拐角補(bǔ)償方法對(duì)提高信號(hào)完整性(SI)有效,但對(duì)降低電磁耦合作用有限。不會(huì)影響諧振點(diǎn)出現(xiàn)位置是上述多參數(shù)研究的共性結(jié)果。
[Abstract]:The inductive current (Current),) generated by the coupling of microstrip line (MSL) and external electromagnetic energy on PCB will cause coupling injury to sensitive devices. At present, the focus of this research is not enough, so the PCB board with corner MSL is taken as the research object, and the Current calculation is the main entry point to calculate the multi-parameter coupling characteristics. After establishing the corresponding numerical model and verifying the validity of the modeling method, the external plane wave excitation source is established and the influence of the parameters such as the angle of MSL and the corner compensation on the current is investigated by using the finite element method. The results show that the calculated positions on the straight MSL have little effect on the Current, and the difference between them decreases with the increase of the frequency, and the difference is larger than that of the MSL bending. The suppression effect of cavity at the resonance point will be weakened or even completely invalidated when the MSL is placed parallel to the electric field E. when the trace line needs to be placed in a short line and the electric field E is placed vertically, the width of the trace line can be increased and the current value will increase, but the trend will slow down. Corner compensation is effective in improving signal integrity (SI), but limited in reducing electromagnetic coupling. It is the common result of the multi-parameter study that the resonance point will not be affected.
【作者單位】： 浙江工業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院電氣電子工程分院;中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所應(yīng)用光學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：中國(guó)科學(xué)院預(yù)研基金(61501.02.03.04)
【分類號(hào)】：TN41

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2194507