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ZnS半導(dǎo)體薄膜材料可控制備與性能研究

發(fā)布時間:2018-08-06 16:32
【摘要】:本論文通過濺射和蒸鍍方法沉積ZnO、Zn或Zn/S/Zn三層結(jié)構(gòu)薄膜,并進(jìn)行硫化處理,制備出ZnS薄膜。用X射線衍射儀、掃描電子顯微鏡以及紫外-可見分光光度計等對薄膜進(jìn)行了表征,研究了硫化條件對薄膜結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的影響。 ZnO薄膜在空氣和H2S氣氛中退火后,只有硫化溫度大于300℃時,才能全部轉(zhuǎn)變?yōu)榱絑nS薄膜,且沿(002)晶面擇優(yōu)生長。最佳的硫化溫度和時間分別為500℃和2h,所得ZnS薄膜結(jié)晶性好、均勻致密,可見光范圍光透過率約80%?諝馔嘶饻囟鹊倪m當(dāng)增加,會改善ZnS薄膜晶體質(zhì)量。此外,討論了ZnS薄膜發(fā)光譜及其發(fā)光機(jī)理。 ZnO薄膜在500℃硫蒸氣中則需長達(dá)18h時間硫化才能完全轉(zhuǎn)變?yōu)閆nS。所得六方結(jié)構(gòu)ZnS薄膜沿(002)晶面擇優(yōu)生長但薄膜光透過率低以及吸收邊寬化。硫化后薄膜晶粒明顯比未硫化薄膜大得多,因為ZnS再結(jié)晶緣故,,其晶粒尺寸約為1μm。而Zn薄膜在500℃硫蒸氣中僅1h就能全部生成ZnS薄膜,其低的光透光率可通過梯度硫化進(jìn)行改善。 三層膜結(jié)構(gòu)在Ar氣氛中進(jìn)行退火,可以得到立方ZnS薄膜,其可見光范圍的光透過率可達(dá)80%。這與在H2S氣氛中硫化濺射ZnO制備ZnS薄膜光透過率相當(dāng),而且前者制備方法更綠色環(huán)保。
[Abstract]:In this paper, ZnS thin films were prepared by sputtering and evaporation deposition. The films were characterized by X-ray diffractometer, scanning electron microscope and UV-Vis spectrophotometer. The effects of vulcanization conditions on the structure and optical properties of the films were investigated. The ZnO films were annealed in air and H _ 2S atmosphere. Only when the vulcanization temperature is higher than 300 鈩

本文編號:2168308

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