科技水平隨著時(shí)間在永無(wú)止境的創(chuàng)新發(fā)展,電子行業(yè)在經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的發(fā)展,各型各樣的電子產(chǎn)品層出不窮,對(duì)于電子產(chǎn)品的心臟集成電路來(lái)說(shuō),其應(yīng)用越來(lái)越廣,無(wú)論是家用電器還是軍用雷達(dá),都離不開(kāi)集成芯片的控制。在不斷滿足各類(lèi)電子產(chǎn)品發(fā)展需要的同時(shí),集成電路也在不斷創(chuàng)新,集成度越來(lái)越大,功能越來(lái)越全,這對(duì)集成電路的制造商來(lái)說(shuō)挑戰(zhàn)也越來(lái)越大,為了提高競(jìng)爭(zhēng)力。集成電路制造廠商必須在產(chǎn)品性能和生產(chǎn)成本上做出提高。而在集成電路制造領(lǐng)域,生產(chǎn)成本在不斷降低,測(cè)試成本卻在不斷提高,制造商在提高產(chǎn)品性能的同時(shí),越來(lái)越重視集成電路的測(cè)試環(huán)節(jié),從而達(dá)到為公司提高競(jìng)爭(zhēng)力的目的。在集成電路生產(chǎn)過(guò)程中,經(jīng)過(guò)測(cè)試合格后的產(chǎn)品才能進(jìn)行大批量的投入市場(chǎng),為集成電路制造商帶來(lái)收益。集成電路的測(cè)試需要涵蓋集成電路的各項(xiàng)參數(shù)和各種功能。所以在測(cè)量的時(shí)候肯定會(huì)涉及到大規(guī)模的數(shù)據(jù)的采集和處理,這就要求測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Ω呔鹊臄?shù)據(jù)采集和后期數(shù)據(jù)的分析能力、操控能力有著很強(qiáng)的要求�，F(xiàn)在測(cè)試領(lǐng)域已經(jīng)在朝著自動(dòng)化方向發(fā)展,而自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)采集精度和分析能力成為了一個(gè)瓶頸。本文的主要目的是針對(duì)這個(gè)問(wèn)題提出了一種基于LabVIEW的自動(dòng)集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。本文主要采用的方法是虛擬儀器技術(shù)來(lái)代替?zhèn)鹘y(tǒng)儀器進(jìn)行測(cè)量。虛擬儀器在進(jìn)一步提高測(cè)試自動(dòng)化程度的同時(shí),對(duì)數(shù)據(jù)的采集和分析能力進(jìn)一步加強(qiáng)了控制。主要技術(shù)創(chuàng)新在于虛擬儀器與硬件采集技術(shù)相結(jié)合。彌補(bǔ)以往測(cè)試系統(tǒng)對(duì)數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析、操作能力的不足。本文以對(duì)存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試來(lái)進(jìn)行測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),所設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)采用Verilog HDL語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)FPGA算法測(cè)試模塊,采用LabVIEW圖形化編程來(lái)設(shè)計(jì)和編寫(xiě)控制界面程序。利用虛擬儀器技術(shù)與FPGA算法相結(jié)合來(lái)提高測(cè)試系統(tǒng)的自動(dòng)化程度。利用LabVIEW開(kāi)發(fā)系統(tǒng)提高了測(cè)試精度和數(shù)據(jù)的可分析性、可操作性。本文成功實(shí)現(xiàn)虛擬儀器與硬件采集系統(tǒng)相結(jié)合的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。虛擬儀器技術(shù)和LabVIEW都具有非常強(qiáng)大的靈活性和擴(kuò)展性。測(cè)試系統(tǒng)只需添加所需外圍硬件已經(jīng)對(duì)計(jì)算機(jī)上的程序進(jìn)行小部分修改就能滿足多數(shù)集成電路測(cè)試的要求。
【學(xué)位授予單位】：東南大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類(lèi)號(hào)】：TN407

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本文編號(hào)：2125470