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基于鍵合線壓降的IGBT模塊內(nèi)部缺陷監(jiān)測研究

發(fā)布時(shí)間:2018-06-12 07:32

  本文選題:IGBT模塊 + 可靠性; 參考:《電源學(xué)報(bào)》2016年06期


【摘要】:為了準(zhǔn)確地評估出IGBT模塊的健康水平,及時(shí)發(fā)現(xiàn)并更換存在缺陷的IGBT模塊,提高功率變流器的可靠性,提出了一種基于鍵合線壓降的IGBT模塊內(nèi)部缺陷診斷方法。通過監(jiān)測IGBT模塊內(nèi)部單個芯片等效鍵合線壓降的變化,辨識出IGBT模塊內(nèi)鍵合線的老化狀態(tài),進(jìn)而判斷出IGBT模塊的健康水平。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,基于鍵合線壓降的IGBT模塊內(nèi)部缺陷診斷方法能準(zhǔn)確地辨識出模塊內(nèi)鍵合線的老化過程,與采用監(jiān)測門極信號辨識模塊老化狀態(tài)的方法相比,所提方法不僅能辨識出單個芯片全部鍵合線脫落的情況,而且能辨識出部分鍵合線老化的情況,在辨識精度上有了很大的提高。該方法為確定合適的時(shí)機(jī)對變流器進(jìn)行維護(hù)、降低系統(tǒng)的維護(hù)成本提供了理論依據(jù)。
[Abstract]:In order to accurately evaluate the health level of IGBT module , it has been found and replaced IGBT module with defect in time , the reliability of power converter is improved , and a method for diagnosing internal defect of IGBT module based on bond wire voltage drop is put forward .
【作者單位】: 重慶大學(xué)輸配電裝備及系統(tǒng)安全與新技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國家自然科學(xué)基金重點(diǎn)資助項(xiàng)目(51137006);國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51577020)~~
【分類號】:TN322.8

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本文編號:2008890

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