本文選題：電流 + 芯片級　； 參考：《科學(xué)技術(shù)與工程》2017年22期

【摘要】：隨著芯片級集成電路規(guī)模的逐漸增大,電路結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜。當(dāng)前故障診斷方法利用電路狀態(tài)對電路故障進(jìn)行檢測,檢測精度低。為此,提出一種新的基于電流的芯片級集成電路故障診斷方法。選擇動態(tài)電流對芯片級集成電路故障進(jìn)行診斷,通過Haar小波函數(shù)對芯片級集成電路進(jìn)行預(yù)處理。介紹了多重分形理論基礎(chǔ),給出動態(tài)電流多重分形譜的計算方法。針對正常芯片級集成電路的動態(tài)電流信號求出其多重分形譜,選擇一組測試向量對待測芯片級集成電路進(jìn)行動態(tài)電流檢測,對得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行小波變換處理,求出不同尺度下動態(tài)電流小波系數(shù)的模極大值。依據(jù)小波系數(shù)模極大值求出多重分形譜,通過其和正常電路多重分形譜之間的差異判斷該電路是否存在故障。實驗結(jié)果表明,所提方法診斷精度高。
[Abstract]:With the increasing scale of IC, the structure of IC becomes more and more complex. The current fault diagnosis method uses the circuit state to detect the circuit fault, and the detection accuracy is low. Therefore, a new fault diagnosis method for IC based on current is proposed. The dynamic current is selected to diagnose the fault of chip level integrated circuit, and the chip level integrated circuit is preprocessed by Haar wavelet function. The basis of multifractal theory is introduced, and the calculation method of dynamic current multifractal spectrum is given. In view of the multifractal spectrum of the dynamic current signal of the normal chip level integrated circuit, a set of test vectors is selected to measure the dynamic current of the chip level integrated circuit, and the obtained data is processed by wavelet transform. The modulus maximum of the wavelet coefficients of dynamic current at different scales is obtained. According to the modulus maximum of wavelet coefficients, the multifractal spectrum is obtained, and the difference between the multifractal spectrum of the circuit and that of the normal circuit is used to determine whether there is a fault in the circuit. The experimental results show that the proposed method has high diagnostic accuracy.
【作者單位】： 河南大學(xué)濮陽工學(xué)院;
【分類號】：TN407

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本文編號：1999753