本文選題：內(nèi)建自測(cè)試 + 折疊集��； 參考：《計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào)》2017年08期

【摘要】：針對(duì)芯片測(cè)試過(guò)程中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備需要傳輸大量測(cè)試數(shù)據(jù)到被測(cè)芯片,浪費(fèi)了大量的測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間的問(wèn)題,提出一種廣義折疊技術(shù)的集成電路測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方案.首先構(gòu)建有向圖,將完全測(cè)試集映射到有向圖中;其次查找有向圖中最長(zhǎng)路徑,將完全測(cè)試集分割成若干個(gè)廣義折疊集;最后存儲(chǔ)廣義折疊集的種子和廣義折疊距離.另外,提出了廣義折疊集的解壓結(jié)構(gòu).理論上可以將整個(gè)測(cè)試集的存儲(chǔ)轉(zhuǎn)化成若干個(gè)廣義折疊種子和廣義折疊距離的存儲(chǔ).對(duì)部分ISCAS89標(biāo)準(zhǔn)電路中規(guī)模較大的時(shí)序電路進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的結(jié)果表明,在同樣實(shí)驗(yàn)環(huán)境下,該方案在壓縮效果方面優(yōu)于Golomb碼、FDR碼、EFDR碼和折疊集等成熟的壓縮方法.
[Abstract]:In order to solve the problem that the automatic test equipment needs to transmit a large amount of test data to the chip and waste a lot of test data transmission time in the process of chip testing, a scheme of integrated circuit test data compression based on generalized folding technique is proposed. First, the directed graph is constructed to map the complete test set to the directed graph; secondly, the longest path in the directed graph is found, and the complete test set is divided into several generalized folding sets; finally, the seed and the generalized folding distance of the generalized folding set are stored. In addition, the decompression structure of generalized folded sets is proposed. In theory, the storage of the whole test set can be transformed into several generalized folding seeds and the storage of generalized folding distance. The experimental results of some large-scale sequential circuits in ISCAS89 standard circuits show that under the same experimental environment, this scheme is superior to the mature compression methods such as Golomb code / EFDR code and folding set in compression effect.
【作者單位】： 安慶師范大學(xué)計(jì)算機(jī)與信息學(xué)院;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(61640421,61306046) 安徽省學(xué)術(shù)帶頭人后備人選(gxbj ZD2016075,2015H053) 安徽省高校自然科學(xué)研究重點(diǎn)項(xiàng)目(KJ2016A427)
【分類號(hào)】：TN407

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本文編號(hào)：1915381