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半導體量子點中的聲學極化子及其自陷轉(zhuǎn)變

發(fā)布時間:2018-05-14 05:16

  本文選題:量子點 + Huybrechts變分法; 參考:《山西師范大學》2015年碩士論文


【摘要】:電子遷移率是一個重要的物理參數(shù),因為它是聯(lián)系微觀電子運動和宏觀電流-伏特特征的橋梁。電子由自由態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)樽韵輵B(tài)時,其遷移率發(fā)生明顯的變化。光電材料的許多物理性質(zhì)也與其電子態(tài)相關。電子與聲學聲子之間的短程相互作用對電子的自陷起著至關重要的作用。因此,我們可以通過求電子-縱聲學聲子系統(tǒng)的哈密頓量,來研究聲學聲子自陷的相關問題。 對量子點中極化子自陷轉(zhuǎn)變的問題進行研究:通過形變勢導出電子—縱聲學聲子相互作用的哈密頓量,用Huybrechts變分方法數(shù)值計算了它的基態(tài)能量。我們發(fā)現(xiàn):隨著尺度的減小,量子點材料由三維向更低維度轉(zhuǎn)變,自陷變得容易;自陷轉(zhuǎn)變點c與截止波矢k0的乘積近似為一常量。在研究量子點的自陷轉(zhuǎn)變時,量子點半徑R=0.07和0.15時,截止波矢為10時,對應的ck0分別為0.6和2.6。由此可推斷:截止波矢為10時,球形量子點在半徑為0.07時,其內(nèi)部電子-聲學聲子耦合強度與二維材料中電子-聲學聲子相互作用強度相當;而當球形量子點在半徑達到0.15時,因其結(jié)構(gòu)特點對電子-聲子耦合強度的影響已近似減弱為零。 文中用LLP方法和Peeters近似方法分別計算了量子點中聲學極化子的有效質(zhì)量特征,結(jié)果發(fā)現(xiàn)這兩種方法得到的有效質(zhì)量存在較大差別,但有效質(zhì)量的轉(zhuǎn)變點是吻合的,我們把其結(jié)果與基態(tài)能量結(jié)果進行比較,發(fā)現(xiàn)基態(tài)能量的拐點與有效質(zhì)量的拐點吻合地很好,這也驗證了量子點中極化子自陷的作用的存在,同時也驗證了我們所采用的近似方法處理有效質(zhì)量問題時是正確的。
[Abstract]:......
【學位授予單位】:山西師范大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2015
【分類號】:O471.1

【參考文獻】

相關期刊論文 前2條

1 趙翠蘭,丁朝華,肖景林;柱形量子點中弱耦合磁極化子的性質(zhì)[J];發(fā)光學報;2004年03期

2 龔志強;羅勇鋒;賀夢冬;;含非均勻結(jié)構(gòu)量子波導中6支振動模中的聲子輸運和熱導[J];中南大學學報(自然科學版);2012年03期

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本文編號:1886511

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