基于I~2C總線的數(shù);旌想娐吩O(shè)計(jì)與驗(yàn)證
本文選題:IC總線 + FPGA驗(yàn)證; 參考:《電子科技》2016年12期
【摘要】:模擬集成電路一般難以自動(dòng)校準(zhǔn),并且IO管角較多,為使其更加高效智能,文中提出一種基于I2C總線的數(shù);旌想娐。利用I2C從機(jī)接口,對(duì)模擬控制寄存器組進(jìn)行讀寫(xiě),完成對(duì)芯片功能的控制。并采用System Verilog、隨機(jī)測(cè)試和覆蓋率收集等驗(yàn)證技術(shù)搭建電路驗(yàn)證平臺(tái),對(duì)驗(yàn)證結(jié)果進(jìn)行自動(dòng)化分析,使代碼覆蓋率達(dá)到97%以上。結(jié)果表明,電路不僅達(dá)到預(yù)期功能,還減少了芯片管角,使電路更加智能可控。
[Abstract]:In order to make analog integrated circuits more efficient and intelligent, a digital-analog hybrid circuit based on I2C bus is proposed. I 2C slave interface is used to read and write the analog control register group to control the chip function. System Verilog, random test and coverage collection are used to build the circuit verification platform, and the results of verification are analyzed automatically, and the code coverage is over 97%. The results show that the circuit not only achieves the expected function, but also reduces the chip angle and makes the circuit more intelligent and controllable.
【作者單位】: 福州大學(xué)物理與信息工程學(xué)院;
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61404030)
【分類(lèi)號(hào)】:TN402
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本文編號(hào):1822888
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