發(fā)布時(shí)間：2018-04-21 02:01

  本文選題：數(shù)字電路 + 邏輯門��； 參考：《實(shí)驗(yàn)技術(shù)與管理》2017年01期

【摘要】：結(jié)合數(shù)字電路相關(guān)課程的改革,針對(duì)數(shù)字電路中常用的74/54系列邏輯門芯片,研究并設(shè)計(jì)了一種基于單片機(jī)最小系統(tǒng)的常用邏輯門芯片測(cè)試裝置。該裝置為電子技術(shù)相關(guān)理論和實(shí)踐教學(xué)提供了快速、直觀、穩(wěn)定的測(cè)試方式,提高了實(shí)驗(yàn)室芯片檢測(cè)的效率與準(zhǔn)確率,同時(shí)也提高了理論與實(shí)驗(yàn)課程的教學(xué)效果。
[Abstract]:Combined with the reform of digital circuit related courses, a test device of common logic gate chip based on the minimum system of single chip microcomputer is studied and designed for 74 / 54 series of logic gate chips commonly used in digital circuits. The device provides a fast, intuitive and stable testing method for the related theory and practice teaching of electronic technology, and improves the efficiency and accuracy of the chip detection in the laboratory, as well as the teaching effect of the theoretical and experimental courses.
【作者單位】： 河海大學(xué)物聯(lián)網(wǎng)工程學(xué)院;
【基金】：江蘇高校品牌專業(yè)建設(shè)工程一期項(xiàng)目(PPZY2015B141) 河海大學(xué)高等教育科學(xué)研究2015年度立項(xiàng)課題“翻轉(zhuǎn)課堂模式下的電類課程實(shí)踐教學(xué)模式研究與實(shí)踐”(20151212)
【分類號(hào)】：TN407;G642.0

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本文編號(hào)：1780417