激光脈沖串對(duì)電荷耦合器件積累損傷效應(yīng)研究
本文選題:脈沖激光 + 損傷機(jī)理。 參考:《紅外與激光工程》2017年10期
【摘要】:為了研究激光脈沖串對(duì)光電系統(tǒng)的損傷和致盲機(jī)理,開(kāi)展了重頻納秒激光對(duì)黑白行間轉(zhuǎn)移相機(jī)電荷耦合器件的損傷實(shí)驗(yàn)研究。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:存在兩種積累損傷效應(yīng)機(jī)理,多個(gè)脈沖到達(dá)CCD靶面同一位置的損傷或致盲具有積累效應(yīng),多個(gè)脈沖積累損傷能夠顯著降低線損傷和全靶面損傷閾值,降低程度與脈沖個(gè)數(shù)、激光到靶能量密度有關(guān)。致盲機(jī)理與單脈沖致盲機(jī)理相同,均表現(xiàn)為器件垂直轉(zhuǎn)移電路間及地間的短路;而激光脈沖串到達(dá)CCD靶面的不同位置也能夠?qū)崿F(xiàn)器件的功能性失效,其機(jī)制與單脈沖損傷顯著不同,僅表現(xiàn)為線損傷的疊加,并未造成器件電路紊亂,功能性損傷閾值即對(duì)應(yīng)線損傷閾值660 mJ/cm~2,而小于單次致盲閾值1 500~2 200 mJ/cm~2。
[Abstract]:In order to study the damage and blinding mechanism of laser pulse train to photoelectric system, the damage experiment of charge coupled device of black and white interline transfer camera by nanosecond laser with repetition frequency was carried out. The experimental results show that there are two mechanisms of cumulative damage. The damage or blindness caused by multiple pulses reaching the same position on the target surface of CCD has accumulative effect, and the damage threshold of line damage and the whole target surface can be significantly reduced by multiple pulse accumulation damage. The degree of reduction is related to the number of pulses and the energy density from laser to target. The blinding mechanism is the same as that of monopulse blinding, both of which are short circuit between the vertical transfer circuits and the ground, and the functional failure of the device can be realized when the laser pulses arrive at different positions of the CCD target. The mechanism is obviously different from that of single pulse damage, which is only the superposition of line damage and does not cause the circuit disorder. The functional damage threshold is 660 MJ / cm ~ (2) corresponding to the line damage threshold, but less than 1 500 ~ 2 200 mJ / cm ~ (2) of single blinding threshold.
【作者單位】: 中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所激光與物質(zhì)相互作用國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:激光與物質(zhì)相互作用國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室自主基金課題(SKLLIM-1503) 光電對(duì)抗測(cè)試評(píng)估技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室開(kāi)放課題(GKCP2016004)
【分類號(hào)】:TN386.5
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,本文編號(hào):1778440
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