一種基于測(cè)例層模型的功能驗(yàn)證方法
本文選題:功能驗(yàn)證 切入點(diǎn):測(cè)例層模型 出處:《電子器件》2017年05期
【摘要】:針對(duì)集成電路功能驗(yàn)證的完整性和重用性問(wèn)題,使用測(cè)例層模型,構(gòu)建協(xié)議功能完整覆蓋的驗(yàn)證計(jì)劃,并使用UVM驗(yàn)證方法和庫(kù)函數(shù)搭建驗(yàn)證環(huán)境,對(duì)一款符合GJB 800/900 MHz RFID芯片系統(tǒng)的設(shè)計(jì)進(jìn)行功能驗(yàn)證。所提出的測(cè)例層模型具備通用性。填充協(xié)議內(nèi)容后的模型,在滿足相同協(xié)議的設(shè)計(jì)之間可重用,在相似協(xié)議或非完整協(xié)議的設(shè)計(jì)中也可重用,即面向協(xié)議的測(cè)例層VIP及其構(gòu)建方法。最終保證了GJB協(xié)議芯片的驗(yàn)證覆蓋率,在TSMC 0.18μm工藝流片成功。
[Abstract]:Aiming at the integrity and reusability of functional verification of integrated circuits, a verification plan with complete coverage of protocol function is constructed by using the test case layer model, and the verification environment is built by using UVM verification method and library functions.Verify the design of a GJB 800 / 900 MHz RFID chip system.The proposed example layer model is universal.The model filled with the content of the protocol can be reused in the design of the same protocol and in the design of the similar protocol or the non-complete protocol, that is, the protocol oriented example layer VIP and its construction method.Finally, the verification coverage of GJB protocol chip is guaranteed, and the chip flow is successful in TSMC 0.18 渭 m process.
【作者單位】: 電子與信息工程學(xué)院哈爾濱工業(yè)大學(xué)深圳研究生院;信息工程學(xué)院北京大學(xué)深圳研究生院;
【基金】:深圳市科技計(jì)劃基礎(chǔ)研究項(xiàng)目(JCYJ20150403161923540)
【分類號(hào)】:TN40
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2 楊s,
本文編號(hào):1720902
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