ICP刻蝕優(yōu)化及在多波長(zhǎng)分布反饋式激光器陣列中的應(yīng)用
本文選題:激光器 切入點(diǎn):分布反饋式激光器陣列 出處:《激光與光電子學(xué)進(jìn)展》2017年03期 論文類(lèi)型:期刊論文
【摘要】:研究了CH_4/H_2/Cl_2感應(yīng)耦合等離子體刻蝕技術(shù)中的關(guān)鍵工藝參數(shù)對(duì)刻蝕性能的影響。通過(guò)對(duì)CH_4/H_2/Cl_2氣體流量及流量比的優(yōu)化,在自行設(shè)計(jì)的InP/InGaAlAs多量子阱結(jié)構(gòu)的外延片上,實(shí)現(xiàn)了一種高速低損耗、形貌良好的Bragg光柵制作方法。基于優(yōu)化后的工藝參數(shù)制作了多周期結(jié)構(gòu)的λ/4相移光柵,實(shí)現(xiàn)了單片集成的四波長(zhǎng)1.3μm分布反饋式激光器陣列。該激光器陣列中激光器的閾值電流典型值為11mA,外微分效率可達(dá)0.40 W/A,且實(shí)現(xiàn)了邊摸抑制比大于46dB的穩(wěn)定的單縱模激光輸出。研究結(jié)果表明優(yōu)化后的ICP光柵刻蝕工藝具有良好的刻蝕精度和可靠性。
[Abstract]:The influence of key process parameters on the etching performance of CH_4/H_2/Cl_2 inductively coupled plasma etching technology is studied. By optimizing the flow rate and flow ratio of CH_4/H_2/Cl_2, a self-designed InP/InGaAlAs multiquantum well structure epitaxial wafer is developed. A high speed and low loss Bragg grating with good morphology is realized. Based on the optimized process parameters, a multi-period 位 / 4 phase-shifted grating is fabricated. A monolithic integrated four-wavelength 1.3 渭 m distributed feedback laser array is implemented, in which the threshold current of the laser is 11 Ma, the external differential efficiency can reach 0.40 W / A, and the edge-groping rejection ratio is more than 46 dB. The results show that the optimized etching process of ICP grating has good etching accuracy and reliability.
【作者單位】: 北京郵電大學(xué)電子工程學(xué)院;太原理工大學(xué)信息工程學(xué)院;武漢電信器件有限公司;深圳清華大學(xué)研究院;
【基金】:國(guó)家高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃(2015AA016901)
【分類(lèi)號(hào)】:TN248.4
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