本文選題：紅外　切入點(diǎn)：信息獲取　出處：《激光與紅外》2017年11期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：隨著紅外焦平面技術(shù)的發(fā)展,探測器規(guī)模變得越來越大,像元噪聲水平越來越低,因此對紅外探測器測試系統(tǒng)噪聲水平提出了更高的要求。本文從線纜、采集電路、電源和偏壓以及ADC四個(gè)部分分析其對系統(tǒng)的影響,較為完整地分析了系統(tǒng)的噪聲,并對相應(yīng)部分噪聲抑制方法進(jìn)行研究。測試結(jié)果表明紅外探測器測試系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍優(yōu)于100 d B。
[Abstract]:With the development of infrared focal plane technology, the scale of detector becomes larger and larger, and the pixel noise level is lower and lower. The influence of power supply, bias voltage and ADC on the system is analyzed. The noise of the system is analyzed completely, and the corresponding partial noise suppression method is studied. The test results show that the dynamic range of the infrared detector test system is better than 100dB.
【作者單位】： 上海大學(xué);中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所;
【基金】：中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所創(chuàng)新基金項(xiàng)目(No.CX-60)資助
【分類號(hào)】：TN215

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本文編號(hào)：1590794