基于雙模冗余的胚胎電子細胞陣列在線故障檢測
發(fā)布時間:2018-02-21 00:32
本文關鍵詞: 胚胎電子細胞陣列 在線故障檢測 雙模冗余 自動化設計 等價性驗證 出處:《北京航空航天大學學報》2017年06期 論文類型:期刊論文
【摘要】:針對胚胎電子細胞陣列在線故障檢測設計困難、檢測率低、檢測率難以準確計算等問題,提出了一種基于雙模冗余的在線故障檢測方法和一種基于電路等價性驗證的故障檢測率分析方法。設計了一種適用于查找表型功能單元的新型檢測器,并開發(fā)了自動化設計程序。針對單固定型故障,將電路轉(zhuǎn)變?yōu)榇炞C電路,再通過故障注入和等價性驗證,可以快速精確地計算電路的故障檢測率。仿真實驗選取16個不同規(guī)模的標準電路,分別映射在胚胎電子細胞陣列中,分析了雙模冗余后面積、延時變化情況和雙模冗余的故障檢測率。仿真結(jié)果給出了較為詳細的面積消耗、電路延時和故障檢測率等數(shù)據(jù),并驗證了本文方法具有很高的故障檢測率。
[Abstract]:In view of the difficulties of on-line fault detection of embryonic electronic cell array, the detection rate is low, and the detection rate is difficult to calculate accurately. An on-line fault detection method based on dual mode redundancy and a fault detection rate analysis method based on circuit equivalence verification are proposed. A new type of detector suitable for finding phenotypic functional units is designed. An automatic design program is developed. For a single fixed fault, the circuit is transformed into a circuit to be verified, and then through fault injection and equivalence verification, The fault detection rate of the circuit can be calculated quickly and accurately. Sixteen standard circuits of different sizes are selected in the simulation experiment, which are mapped into the embryonic electronic cell array, and the area after double mode redundancy is analyzed. The simulation results show the detailed data of area consumption, circuit delay and fault detection rate, and verify that the proposed method has a high fault detection rate.
【作者單位】: 軍械工程學院電子與光學工程系;
【基金】:國家自然科學基金(61372039,61601495)~~
【分類號】:TN707
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