本文關(guān)鍵詞： IP核 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 片上系統(tǒng) 混合電路測試 噪聲測量　出處：《微電子學(xué)》2016年06期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對片上系統(tǒng)(SoC)中模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的測試,提出了一種測試IP核結(jié)構(gòu)。IP核主要由模擬信號源、換位器和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)等組成,能夠根據(jù)設(shè)計者不同的需求選擇不同的測試方案。針對ADC的低位呆滯故障以及跳變故障的檢測,提出了一種新的檢測方法,解決了ADC低位故障檢測困難的問題,該方法還可以用于對電壓穩(wěn)定度以及噪聲的測量。通過對IP核數(shù)字電路部分的設(shè)計與仿真,證明IP核是可行的。
[Abstract]:In view of the test of A / D converter (ADC) in SoC (system on Chip), a test IP core structure. The IP core is mainly composed of analog signal source, commutator and DAC, etc. According to different requirements of designers, different test schemes can be selected. A new detection method is proposed for the detection of low level stagnant faults and jump faults of ADC, which solves the difficult problem of ADC low level fault detection. The method can also be used to measure the voltage stability and noise. The design and simulation of the digital circuit of IP core show that the IP core is feasible.
【作者單位】： 桂林電子科技大學(xué)電子工程與自動化學(xué)院;
【分類號】：TN792

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本文編號：1506623