基于錯誤傳播分析的SDC脆弱指令識別方法
本文關鍵詞: 單粒子翻轉(zhuǎn) 單粒子軟錯誤 SDC脆弱指令 錯誤注入 錯誤傳播 出處:《計算機研究與發(fā)展》2016年09期 論文類型:期刊論文
【摘要】:單粒子軟錯誤是高輻照空間環(huán)境下影響計算可靠性的主要因素.隨著芯片晶體管數(shù)的快速增長,單粒子軟錯誤的威脅日益嚴重.結果錯誤(silent data corruption,SDC)是單粒子軟錯誤造成的一種故障類型.由于SDC是隱蔽傳播的,SDC的檢測是單粒子軟錯誤防護的難點.尋找SDC脆弱指令是目前檢測SDC的重要途徑.現(xiàn)有方法需要進行巨量的錯誤注入,時間代價巨大.首先根據(jù)數(shù)據(jù)關聯(lián)圖建立了指令的數(shù)據(jù)依賴關系,研究了函數(shù)間和函數(shù)內(nèi)部錯誤傳播過程;進而推導出判定SDC脆弱指令的充分條件,提出了SDC脆弱指令識別方法,該方法在錯誤注入中依據(jù)充分條件推測潛在的SDC脆弱指令.實驗表明,在保證較高準確率和覆蓋率的前提下,時間代價顯著減少.
[Abstract]:Single particle soft error is the main factor that affects the reliability of calculation in high irradiation space. With the rapid increase of the number of transistors in the chip, The threat of single particle soft error is becoming more and more serious. Result silent data fault is a kind of fault caused by single particle soft error. Detection of SDC is a difficult point of single particle soft error prevention. Order is an important way to detect SDC at present. Existing methods require a huge amount of error injection. The time cost is huge. Firstly, the data dependence of instructions is established according to the data association graph, and the error propagation process between and within functions is studied, and then the sufficient conditions for judging SDC fragile instructions are derived. In this paper, a method of SDC fragile instruction recognition is proposed, which infer the potential SDC fragile instruction based on sufficient conditions in error injection. Experiments show that the time cost is significantly reduced on the premise of high accuracy and coverage.
【作者單位】: 東南大學計算機科學與工程學院;計算機網(wǎng)絡和信息集成教育部重點實驗室(東南大學);中國空間技術研究院總體部;
【分類號】:TP302.8
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,本文編號:1503908
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