發(fā)布時(shí)間：2018-02-11 20:15

  本文關(guān)鍵詞： 單粒子翻轉(zhuǎn) 單粒子軟錯(cuò)誤 SDC脆弱指令 錯(cuò)誤注入 錯(cuò)誤傳播　出處：《計(jì)算機(jī)研究與發(fā)展》2016年09期 　論文類(lèi)型：期刊論文

【摘要】：單粒子軟錯(cuò)誤是高輻照空間環(huán)境下影響計(jì)算可靠性的主要因素.隨著芯片晶體管數(shù)的快速增長(zhǎng),單粒子軟錯(cuò)誤的威脅日益嚴(yán)重.結(jié)果錯(cuò)誤(silent data corruption,SDC)是單粒子軟錯(cuò)誤造成的一種故障類(lèi)型.由于SDC是隱蔽傳播的,SDC的檢測(cè)是單粒子軟錯(cuò)誤防護(hù)的難點(diǎn).尋找SDC脆弱指令是目前檢測(cè)SDC的重要途徑.現(xiàn)有方法需要進(jìn)行巨量的錯(cuò)誤注入,時(shí)間代價(jià)巨大.首先根據(jù)數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)圖建立了指令的數(shù)據(jù)依賴(lài)關(guān)系,研究了函數(shù)間和函數(shù)內(nèi)部錯(cuò)誤傳播過(guò)程;進(jìn)而推導(dǎo)出判定SDC脆弱指令的充分條件,提出了SDC脆弱指令識(shí)別方法,該方法在錯(cuò)誤注入中依據(jù)充分條件推測(cè)潛在的SDC脆弱指令.實(shí)驗(yàn)表明,在保證較高準(zhǔn)確率和覆蓋率的前提下,時(shí)間代價(jià)顯著減少.
[Abstract]:Single particle soft error is the main factor that affects the reliability of calculation in high irradiation space. With the rapid increase of the number of transistors in the chip, The threat of single particle soft error is becoming more and more serious. Result silent data fault is a kind of fault caused by single particle soft error. Detection of SDC is a difficult point of single particle soft error prevention. Order is an important way to detect SDC at present. Existing methods require a huge amount of error injection. The time cost is huge. Firstly, the data dependence of instructions is established according to the data association graph, and the error propagation process between and within functions is studied, and then the sufficient conditions for judging SDC fragile instructions are derived. In this paper, a method of SDC fragile instruction recognition is proposed, which infer the potential SDC fragile instruction based on sufficient conditions in error injection. Experiments show that the time cost is significantly reduced on the premise of high accuracy and coverage.
【作者單位】： 東南大學(xué)計(jì)算機(jī)科學(xué)與工程學(xué)院;計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)和信息集成教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室(東南大學(xué));中國(guó)空間技術(shù)研究院總體部;
【分類(lèi)號(hào)】：TP302.8

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本文編號(hào)：1503908