本文關(guān)鍵詞： 安全芯片 主動屏蔽層 聚焦粒子束 侵入式攻擊　出處：《電子技術(shù)應(yīng)用》2017年07期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：安全芯片通常在芯片頂層布滿主動屏蔽層,以防止侵入式物理探測、攻擊篡改芯片部分功能模塊,從而獲取芯片內(nèi)部存儲的關(guān)鍵數(shù)據(jù)和敏感信息。本文提出了一種基于FIB技術(shù)攻擊芯片主動屏蔽層的方法,對現(xiàn)有靜態(tài)或動態(tài)檢測的主動屏蔽層的安全芯片,均可避開主動屏蔽層的檢測實(shí)施攻擊。該方法簡易直接,可操作性極強(qiáng),對芯片的安全設(shè)計和攻擊具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。使用該攻擊方法,成功實(shí)現(xiàn)對智能IC卡進(jìn)行侵入式攻擊,探測到芯片RAM存儲器輸出數(shù)據(jù)信號,并重新激活了芯片測試模式。
[Abstract]:Security chips are usually covered with active shielding layers on the top of the chip to prevent intrusive physical detection and attack some functional modules of the tampering chip. In order to obtain the key data and sensitive information stored inside the chip, this paper presents a method based on FIB technology to attack the active shielding layer of the chip. The method is simple and direct, and has strong maneuverability, which is of great practical significance to the security design and attack of the chip. The intrusion attack on the intelligent IC card was successfully realized, the output data signal of the chip RAM memory was detected, and the chip test mode was reactivated.
【作者單位】： 北京智芯微電子科技有限公司國家電網(wǎng)公司重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室電力芯片設(shè)計分析實(shí)驗(yàn)室;北京智芯微電子科技有限公司北京市電力高可靠性集成電路設(shè)計工程技術(shù)研究中心;國家電網(wǎng)公司信息通信部;國網(wǎng)寧夏電力公司;
【基金】：基金項(xiàng)目:基于JAVA的高安全電力金融多應(yīng)用智能卡關(guān)鍵技術(shù)研究(526816160016)
【分類號】：TN40

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前2條

1 張峗;趙毅強(qiáng);劉軍偉;李雪民;楊松;;一種抗物理攻擊防篡改檢測技術(shù)[J];微電子學(xué)與計算機(jī);2016年04期

2 張繼成;唐永建;吳衛(wèi)東;;聚焦離子束系統(tǒng)在微米/納米加工技術(shù)中的應(yīng)用[J];材料導(dǎo)報;2006年S2期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前2條

1 劉文娟;基于安全存儲的抗攻擊關(guān)鍵技術(shù)研究[D];天津大學(xué);2014年

2 徐敏;抗物理攻擊安全芯片關(guān)鍵技術(shù)研究[D];天津大學(xué);2012年

【共引文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前7條

1 王敏;劉瑩;邵瑾;胡曉波;劉亮;趙東艷;張海峰;尹國龍;;基于FIB技術(shù)攻擊芯片主動屏蔽層[J];電子技術(shù)應(yīng)用;2017年07期

2 金乾進(jìn);柴青;;聚焦離子束(FIB)直寫技術(shù)研究[J];傳感器世界;2017年03期

3 李大玉;高瑞芳;;LaNiO_3凝膠薄膜微細(xì)圖形的制備[J];材料導(dǎo)報;2016年S2期

4 張春雷;向陽;于長淞;;高精度干涉儀針孔空間濾波器研制[J];中國光學(xué);2013年06期

5 田吳翟;方靖岳;張學(xué)驁;;聚焦電子/離子束技術(shù)的原理及應(yīng)用[J];大學(xué)物理實(shí)驗(yàn);2013年03期

6 章曉文;林曉玲;陳嬡;;FIB的工作原理及其應(yīng)用[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2009年S1期

7 張文毓;侯世忠;;納米加工技術(shù)的研究進(jìn)展[J];納米科技;2011年04期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 張亮;一種安全身份認(rèn)證芯片研究與實(shí)現(xiàn)[D];華中科技大學(xué);2015年

【二級參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前3條

1 冉彤;白國強(qiáng);;基于系統(tǒng)級封裝(SiP)的信息安全芯片集成設(shè)計[J];微電子學(xué)與計算機(jī);2012年01期

2 江素華,謝進(jìn),王家楫;新一代微分析及微加工手段——聚焦離子束系統(tǒng)[J];電子工業(yè)專用設(shè)備;2000年04期

3 董桂芳,張克潛,汪健如,應(yīng)根裕;液態(tài)金屬離子源聚焦離子束系統(tǒng)在微米/納米技術(shù)中的應(yīng)用[J];電子學(xué)報;1999年06期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前6條

1 耿俊峰;硬件木馬及其目標(biāo)電路的研究[D];天津大學(xué);2012年

2 曹勇;基于FPGA的安全SRAM的測試系統(tǒng)的研究與設(shè)計[D];華中科技大學(xué);2010年

3 程濤;多處理器系統(tǒng)中存儲安全若干關(guān)鍵技術(shù)研究[D];上海交通大學(xué);2010年

4 許蓉;用于檢測細(xì)胞電阻的PDMS微流控芯片的研制[D];重慶大學(xué);2009年

5 梁軍;黑色氧化鋁陶瓷封裝材料及疊層工藝研究[D];華中科技大學(xué);2007年

6 葉世芬;安全芯片物理防護(hù)研究[D];浙江大學(xué);2005年

【相似文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前6條

1 TMG CSJ;;導(dǎo)線不能缺少屏蔽層[J];電腦迷;2006年08期

2 任長寧;;布線系統(tǒng)屏蔽層與接地的檢測[J];智能建筑與城市信息;2008年11期

3 ;問與答[J];電信技術(shù);1995年04期

4 賈玉乾;李珉霞;;屏蔽與接地[J];包鋼科技;2011年02期

5 諸邦田;;電磁場耦合噪聲及其抑制方法(二)[J];電子制作;1996年11期

6 ;[J];;年期

相關(guān)會議論文 前1條

1 王景堯;張鳳春;龔紹英;;γ射線屏蔽層厚度設(shè)計深入探討[A];中華醫(yī)學(xué)會醫(yī)學(xué)工程學(xué)分會第四次學(xué)術(shù)年會浙江醫(yī)學(xué)會醫(yī)學(xué)工程分會98年學(xué)術(shù)年會論文集[C];1998年

相關(guān)重要報紙文章 前8條

1 寶華;金屬屏蔽層變薄 手機(jī)越小越不防輻射[N];大眾科技報;2006年

2 本報記者 張旭軍;通俗理解7類[N];網(wǎng)絡(luò)世界;2004年

3 賈玉柱;淺談可編程序控制器抗干擾的問題[N];伊犁日報(漢);2008年

4 張陽;細(xì)微之處顯真功[N];中國電腦教育報;2004年

5 孫國彬 紀(jì)永新;一葉豈可障目 干擾必須消除[N];中國電力報;2004年

6 ;提升10G屏蔽電纜接線效率[N];網(wǎng)絡(luò)世界;2005年

7 實(shí)習(xí)生 徐冰;大氣屏蔽層何以對抗溫室效應(yīng)？[N];科技日報;2012年

8 天津 戴洪志;Hi-Fi放大器輸入信號線的接法[N];電子報;2006年

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前8條

1 張鑫;電磁脈沖對線纜的耦合仿真研究[D];西安電子科技大學(xué);2014年

2 謝明哲;軌邊通信線纜的電磁兼容性研究[D];北京交通大學(xué);2016年

3 胡濤春;磁屏蔽電纜感應(yīng)耦合干擾抑制機(jī)理分析[D];北京工業(yè)大學(xué);2016年

4 孫凱;電纜半導(dǎo)電屏蔽層微波輔助加熱交聯(lián)技術(shù)研究[D];哈爾濱理工大學(xué);2015年

5 張小輝;單芯電力電纜交流電阻以及復(fù)合屏蔽層渦流損耗的計算[D];華南理工大學(xué);2014年

6 倪任重;ITER中子屏蔽層結(jié)構(gòu)的傳熱機(jī)理研究與分析[D];安徽理工大學(xué);2013年

7 王魁濤;基于虛擬儀器的電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測試系統(tǒng)的研究[D];中國地質(zhì)大學(xué);2006年

8 徐傳進(jìn);電磁層析成像關(guān)鍵技術(shù)仿真研究[D];天津大學(xué);2010年

，

本文編號：1503130