天堂国产午夜亚洲专区-少妇人妻综合久久蜜臀-国产成人户外露出视频在线-国产91传媒一区二区三区

當(dāng)前位置:主頁 > 科技論文 > 電子信息論文 >

高可靠厚膜功率組件低空洞燒結(jié)設(shè)計與工藝技術(shù)研究

發(fā)布時間:2018-01-16 04:20

  本文關(guān)鍵詞:高可靠厚膜功率組件低空洞燒結(jié)設(shè)計與工藝技術(shù)研究 出處:《北華航天工業(yè)學(xué)院》2015年碩士論文 論文類型:學(xué)位論文


  更多相關(guān)文章: 高可靠厚膜功率組件 燒結(jié) 空洞 回流焊 真空焊


【摘要】:在當(dāng)今電子工業(yè)高速發(fā)展的時代,隨著厚膜混合集成電路向著高性能、高可靠、小型化、高均一性及低成本方向的發(fā)展,對厚膜混合電路的組裝技術(shù)和工藝提出了越來越高的要求。在厚膜混合集成電路中,功率組件是核心器件,決定著厚膜功率組件的性能和熱響應(yīng)情況。在厚膜功率組件的組裝中,現(xiàn)在主要存在的問題是:由于焊接的器件空洞較多,所以工作時產(chǎn)生的熱量不能有效地發(fā)散,最終使器件的工作結(jié)溫高,降低了其使用壽命,甚至個別零件由于溫度較高而導(dǎo)致電壓擊穿。影響空洞產(chǎn)生的因素有很多,本文經(jīng)過查閱大量的文獻(xiàn),結(jié)合國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀,分別從厚膜管殼、基板的尺寸;焊料成分、狀態(tài)(焊片、焊膏)的選用;工藝曲線(真空度、還原氣氛、溫度設(shè)置)各個方面來減小孔洞率,其后通過外觀、X射線、金相分析、剪切力測試分析厚膜功率器件的孔洞率、可靠性,找出形成空洞的真正原因是焊料在燒結(jié)過程中殘留的氣體和氧化物無法排出。結(jié)果表明:回流焊中通過對工藝溫度曲線、焊接層厚度、壓力的分析,找到了各自合適的參數(shù)改善焊接空洞問題。得出溫度曲線是影響焊接空洞大小的最顯著因素,真空焊通過對工藝曲線、壓力、甲酸的控制、載體粗糙度、氣氛保護(hù)的分析,找到了各自合適的參數(shù)改善焊接空洞問題,得出工藝曲線、氣氛保護(hù)是影響焊接空洞大小的最顯著因素。
[Abstract]:In the era of high speed development of electronic industry, with the development of thick film hybrid integrated circuit towards high performance, high reliability, miniaturization, high uniformity and low cost. The assembly technology and process of thick film hybrid circuit are required more and more. In the thick film hybrid integrated circuit, the power component is the core device. It determines the performance and thermal response of thick film power assembly. In the assembly of thick film power assembly, the main problem is that there are more voids in welding devices. Therefore, the heat produced when working can not be effectively divergent, which ultimately makes the working temperature of the device high and reduces its service life. Even some parts cause voltage breakdown due to high temperature. There are many factors that affect the cavity. This paper reviews a large number of literature, combined with the development of domestic and foreign, respectively from the thick film shell, substrate size; Selection of solder composition and status (solder, solder paste); The process curve (vacuum, reduction atmosphere, temperature setting) is used to reduce the porosity of the thick film power device by X-ray, metallographic analysis and shear force test. The result shows that the process temperature curve, the thickness of welding layer and the pressure are analyzed in reflux welding. The temperature curve is the most significant factor affecting the size of the welding cavity. The vacuum welding through the process curve, pressure, formic acid control, carrier roughness. Based on the analysis of the atmosphere protection, the appropriate parameters are found to improve the welding cavity, and the process curve is obtained. The atmosphere protection is the most significant factor affecting the size of the welding cavity.
【學(xué)位授予單位】:北華航天工業(yè)學(xué)院
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2015
【分類號】:TN452

【參考文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前9條

1 潘茹;李明娟;吳堅;劉英坤;;半導(dǎo)體器件芯片焊接方法及控制[J];半導(dǎo)體技術(shù);2006年04期

2 田大壘;王杏;關(guān)榮鋒;;大功率白光LED封裝技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)[J];電子與封裝;2008年02期

3 謝飛;劉美鑰;;真空共晶技術(shù)的研究應(yīng)用[J];電子工藝技術(shù);2006年06期

4 高能武;季興橋;徐榕青;李悅;;無空洞真空共晶技術(shù)及應(yīng)用[J];電子工藝技術(shù);2009年01期

5 張國光;鄭學(xué)仁;張順;張國俊;鄭春揚(yáng);吳朝暉;;提高M(jìn)OS功率晶體管封裝可靠性技術(shù)研究[J];電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn);2009年06期

6 王鐵兵,施建中,謝曉明;Au/In等溫凝固焊接失效模式研究[J];功能材料與器件學(xué)報;2001年01期

7 韓柏;丁冬雁;;保護(hù)氣氛對無鉛電子組裝的影響[J];材料導(dǎo)報;2013年13期

8 郭宏宇;元器件產(chǎn)品在芯片燒結(jié)過程的質(zhì)量控制[J];電子質(zhì)量;2005年10期

9 閆焉服,劉建萍,史耀武,夏志東;Ag和Ni顆粒對63Sn37Pb力學(xué)性能和潤濕性能的影響[J];焊接學(xué)報;2004年01期

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前1條

1 孫亞男;軟焊料鍵合實(shí)現(xiàn)MEMS晶圓級真空封裝[D];華中科技大學(xué);2011年

,

本文編號:1431524

資料下載
論文發(fā)表

本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/1431524.html


Copyright(c)文論論文網(wǎng)All Rights Reserved | 網(wǎng)站地圖 |

版權(quán)申明:資料由用戶26090***提供,本站僅收錄摘要或目錄,作者需要刪除請E-mail郵箱bigeng88@qq.com