本文關(guān)鍵詞：基于Multisim 10的電子電路可靠性研究，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

基于Multisim 10的電子電路可靠性研究

雷 躍 譚永紅

（柳州鐵道職業(yè)技術(shù)學(xué)院 廣西 柳州545007）

【摘要】利用Multisim 10平臺進(jìn)行電子電路設(shè)計(jì)的可靠性研究，可以有效地解決傳統(tǒng)分析方法難以對電子電路設(shè)計(jì)進(jìn)行容差精確分析的技術(shù)問題。方法為統(tǒng)計(jì)取樣法，，其理論基礎(chǔ)是概率論中的大數(shù)定理，基本原理是根據(jù)指定的分布規(guī)律在器件參數(shù)容差范圍內(nèi)隨機(jī)地選取元器件及電路工作條件參數(shù)，再經(jīng)大量計(jì)算，分析出電路性能的統(tǒng)計(jì)規(guī)律。通過實(shí)例，說明應(yīng)用Multisim 10進(jìn)行蒙特卡羅分析和最壞情況分析的方法和步驟，呈現(xiàn)出Multisim 10在電子電路設(shè)計(jì)的可靠性研究中出色的應(yīng)用效果和廣闊的應(yīng)用前景。

【關(guān)鍵詞】容差分析；仿真分析；可靠性

【收稿日期】2010-3-5

【作者簡介】雷躍(1958-)，男，湖南長沙人，柳州鐵道職業(yè)技術(shù)學(xué)院現(xiàn)代技術(shù)中心主任，高級實(shí)驗(yàn)師，主要從事電氣自動化控制技術(shù)研究；譚永紅(1959-)，女，廣西桂林人，柳州鐵道職業(yè)技術(shù)學(xué)院電子工程系高級實(shí)驗(yàn)師，主要從事應(yīng)用電子技術(shù)研究。

【中圖分類號】TN702 【文章標(biāo)識碼】 A

Reliability Research of Electronic Circuit Based on Multisim 10

Lei Yao Tan Yong-hong

(Liuzhou Railway Vocational Technical College，Liuzhou Guangxi 545007)

Abstract： using Multisim 10 platform to research the reliability of electronic circuit design can effectively solve accurate tolerance analysis of the electronic circuit design. This method called statistical sampling is based on Bernoulli Theorem in Probability Theory. According to the specified distribution rule, it selects the Electron Component and work condition parameters within the tolerance randomly, then by virtue of calculation, analyzes the statistical regularity of the circuit performance．Through examples，the methods and steps of the Monte Carlo analysis and the worst case analysis by Multisim 10 are illustrated, and the outstanding effect and broad prospect of Multisim 10 in the reliability consideration of electronic circuit design are presented.

Key words：tolerance analysis；simulation analysis； reliability 1 引言

對于高精度的復(fù)雜電子系統(tǒng)，其穩(wěn)定性問題在系統(tǒng)可靠性中占有很重要的地位。由于制造工藝和使用條件等原因，任何電子產(chǎn)品都不可避免地會受到隨機(jī)擾動因素的影響。例如實(shí)際電路中的元器件參數(shù)和其標(biāo)稱值之間的隨機(jī)誤差、使用時間的增加、環(huán)境條件的變化等，

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