本文關(guān)鍵詞：一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫的自動仿真驗(yàn)證方法　出處：《微電子學(xué)》2017年01期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：提出了一種針對標(biāo)準(zhǔn)單元庫中單元邏輯功能進(jìn)行自動仿真驗(yàn)證的方法,驗(yàn)證了55nm標(biāo)準(zhǔn)單元庫中單元邏輯功能的正確性。該方法能自動提取設(shè)計(jì)文檔中的單元邏輯,根據(jù)提取結(jié)果中輸入端的數(shù)量自動生成測試向量,并以此測試向量生成參考邏輯值,整個(gè)過程只需0.708μs。采用仿真工具對標(biāo)準(zhǔn)單元庫文件進(jìn)行仿真,將得到的仿真值自動與參考值對比,驗(yàn)證了庫單元邏輯的正確性,提高了標(biāo)準(zhǔn)單元庫功能驗(yàn)證的效率。
[Abstract]:In this paper, a method for automatic simulation and verification of unit logic function in standard cell library is proposed. The correctness of unit logic function in 55nm standard cell library is verified. This method can automatically extract unit logic from design document and generate test vector automatically according to the number of input terminals in the result of extraction. The whole process only needs 0.708 渭 s. The simulation tool is used to simulate the standard cell library file, and the simulation value is automatically compared with the reference value. The correctness of library unit logic is verified and the efficiency of function verification of standard cell library is improved.
【作者單位】： 北京工業(yè)大學(xué)電子信息與控制工程學(xué)院;北達(dá)科他州立大學(xué)電子與計(jì)算機(jī)工程系;
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61204040) 北京市教育委員會科技計(jì)劃面上項(xiàng)目(JC002999201301) 北京市自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(4152004)
【分類號】：TN402
【正文快照】： 2.北達(dá)科他州立大學(xué)電子與計(jì)算機(jī)工程系,美國北達(dá)科他州法戈58102)0引言專用集成電路(Application Specific IntegratedCircuit,ASIC)是指為滿足特定用戶需求或特定電子系統(tǒng)需求而設(shè)計(jì)制造的集成電路[1,2]。它在構(gòu)成電子系統(tǒng)時(shí)具有體積小、重量輕、功耗低、可靠性高和成本低等

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號：1404411