本文關(guān)鍵詞：基于掃頻調(diào)諧預(yù)掃描的快速EMI測試關(guān)鍵技術(shù)研究

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【摘要】：針對點(diǎn)頻式測量方法進(jìn)行EMI測試效率低的問題,基于掃頻調(diào)諧預(yù)掃描實(shí)現(xiàn)EMI快速測試。首先,根據(jù)掃頻、點(diǎn)頻調(diào)諧測量方法的特點(diǎn),提出基于掃頻調(diào)諧預(yù)掃描、點(diǎn)頻調(diào)諧終測量的快速EMI測試系統(tǒng)框架及拓?fù)潢P(guān)系;其次,研究掃頻調(diào)諧式預(yù)掃描的誤差補(bǔ)償技術(shù),研究環(huán)境電平、天線與饋線對測試精度影響的補(bǔ)償方法;最后,按照GB14023-2011規(guī)定,搭建專用于車輛掃頻調(diào)諧預(yù)掃描的快速EMI測試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)誤差修正、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、數(shù)據(jù)處理等高度定制化功能.結(jié)果表明:在30~1 000 MHz頻段的峰值檢波,使用掃頻調(diào)諧預(yù)掃描可以節(jié)省時(shí)間47.4 s,提高檢測效率33.02%。
【作者單位】： 廣東石油化工學(xué)院計(jì)算機(jī)與電子信息學(xué)院;華南理工大學(xué)機(jī)械與汽車工程學(xué)院;
【基金】：廣州市科技計(jì)劃項(xiàng)目(201504010037)資助
【分類號】：TN06
【正文快照】： 1引言電磁干擾(electro magnetic interference,EMI)測試系統(tǒng)用于測試印刷電路板、電子元器件、電子產(chǎn)品、集成系統(tǒng)等不同受試設(shè)備(equipment undertest,EUT)的EMI發(fā)射值[1-5],經(jīng)過預(yù)掃描(pre-scanning)獲得EUT在規(guī)定頻段內(nèi)的特征頻率,再測量EUT各種工況下不同特征頻率處的EMI

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號：1307211