發(fā)布時(shí)間：2017-12-09 12:08

  本文關(guān)鍵詞：貓眼回波圖像隨CMOS器件激光損傷變化的實(shí)驗(yàn)研究

  更多相關(guān)文章： 衍射 貓眼回波 探測(cè)器表面 二維光柵 激光損傷

【摘要】：成像系統(tǒng)中的CMOS探測(cè)器被激光損傷后,其貓眼回波會(huì)發(fā)生變化。對(duì)貓眼回波圖像的變化進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究,發(fā)現(xiàn)隨著用于損傷的激光功率增加,CMOS器件的微透鏡發(fā)生分解,直至最終消失,并使器件表面形成由遮光鋁膜和光敏區(qū)構(gòu)成的二維光柵,貓眼回波圖像內(nèi)的陣列光斑也經(jīng)歷了逐步消失又恢復(fù)的過程。以高斯隨機(jī)表面模擬微透鏡表面形貌,建模計(jì)算了貓眼回波圖像隨微透鏡損傷程度的變化,計(jì)算結(jié)果與實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象相符。
【作者單位】： 脈沖功率激光技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室(電子工程學(xué)院);
【基金】：國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室基金(SKL2014ZR06)
【分類號(hào)】：TN249
【正文快照】： 1　引　　言光電成像系統(tǒng)廣泛地應(yīng)用于航空、航天、偵察與微光夜視等領(lǐng)域,然而其光電探測(cè)器又非常容易受到激光的干擾與損傷,嚴(yán)重影響其正常工作。因此,研究激光對(duì)探測(cè)器的輻照效應(yīng)具有重要意義,相關(guān)領(lǐng)域的研究成果也非常豐富[1-8]。激光輻照探測(cè)器使微透鏡、遮光鋁膜和基底出

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1270327