本文關(guān)鍵詞：彈載行波管貯存壽命評估方法研究

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【摘要】：本文提出一種新的長期貯存壽命的評估方法。長期貯存壽命是彈載行波管的重要指標(biāo)。首先,本文通過實驗標(biāo)定離子流與真空度的對應(yīng)關(guān)系,然后再用檢測離子流來間接反映行波管真空度,判斷行波管長期貯存壽命。通過試驗數(shù)據(jù)分析,某彈載行波管長期貯存壽命預(yù)測超過20年。
【作者單位】： 北京真空電子技術(shù)研究所;
【分類號】：TN124
【正文快照】： 導(dǎo)彈具有“長期貯存,一次性使用”的特點,貯存壽命是導(dǎo)彈的一個重要戰(zhàn)技指標(biāo)[1]。貯存壽命的定義:“產(chǎn)品在規(guī)定條件下貯存時,仍能滿足質(zhì)量要求的時間長度,質(zhì)量要求是指失效率在允許的范圍內(nèi)沒有增大的趨勢”[2]。應(yīng)用在各種現(xiàn)代化導(dǎo)彈系統(tǒng)、有源電子誘餌中的真空電子器件,面臨

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本文編號：1267421