本文關(guān)鍵詞：泰克推出Keithley S540功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

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【摘要】：正全自動(dòng)高速晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試解決方案面向最新的功率半導(dǎo)體器件,包括高達(dá)3kV的SiC和GaN2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley S540功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),這是為高達(dá)3kV的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)提供的一種全自動(dòng)48針參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)。全集成S540是為用于最新復(fù)合功率半導(dǎo)體材料而優(yōu)化的,包括金剛砂(SiC)和氮化鎵(GaN),可以在一個(gè)探頭接入中執(zhí)行所有高壓測(cè)試、低壓測(cè)試和電容測(cè)試。
【分類(lèi)號(hào)】：TN307
【正文快照】： 全自動(dòng)高速晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試解決方案面向最新的功率半導(dǎo)體器件,包括高達(dá)3kV的SiC和GaN　　2016年10月27日,泰克科技公司日前推出Keithley為提供生產(chǎn)級(jí)性能,S540可以在最多48針上執(zhí)行參S540功率半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),這是為高達(dá)3kV的功率半導(dǎo)數(shù)測(cè)量,而不用改變電纜或探頭插件設(shè)施。它

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