本文關(guān)鍵詞：溫度循環(huán)下IGBT熱阻退化模型的研究

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【摘要】：絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)在工作過(guò)程中經(jīng)常要承受過(guò)熱和較大的溫度波動(dòng),當(dāng)熱損傷達(dá)到一定的程度時(shí),模塊極有可能出現(xiàn)失效,從而帶來(lái)巨大損失。首先從理論上分析了IGBT的失效機(jī)理,然后利用熱阻測(cè)試平臺(tái)和加速老化實(shí)驗(yàn)平臺(tái)測(cè)得IGBT熱阻在溫度循環(huán)沖擊下的退化情況,最后根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果建立IGBT熱阻退化數(shù)學(xué)模型,得出熱阻的退化規(guī)律。
【作者單位】： 河北工業(yè)大學(xué)電氣工程學(xué)院;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51377044) 河北省科技支撐計(jì)劃資助項(xiàng)目(13214303D;4214503D)
【分類號(hào)】：TN322.8
【正文快照】： 0引言高頻化、大功率化和集成化是絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)不斷發(fā)展的方向[1]。功率和集成度的增加使得IGBT所承受的功率密度不斷升高,同時(shí)隨著技術(shù)的不斷發(fā)展IGBT工作的頻率也不斷增大,這些都使器件的發(fā)熱問(wèn)題愈加嚴(yán)重。IGBT各層材料的厚度、熱膨脹系數(shù)、熱導(dǎo)率、熱阻值和熱

【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1258518