本文關(guān)鍵詞：原子熒光光譜法測定電子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

原子熒光光譜法測定電子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻

探討了應(yīng)用原子熒光光譜(AFS)法測定電子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻的可行性。經(jīng)研究,該方法精密度和準(zhǔn)確度好,檢出限低,可使用一種AFS檢測儀器即可完成電子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻的檢測。

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欄目編輯：姚蔚利

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電孑信息產(chǎn)品污染控鈞

Th t r i a i f u b m, d i m n e a a e tChr m i m nt e e De e m n t on o m u Pl Ca m u a d H x v l n o u i h

Elc r n c I f r to o c y Usngt eAt e to i o ma i n Pr du t i h om l or s e c e tu n b F u e c n e Sp c r m

中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

高

堅(jiān)

邢衛(wèi)兵

摘要探討了應(yīng)用原子熒光光譜(F￣測定電 AS 子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻的可行性。經(jīng)研究，該方 法精密度和準(zhǔn)確度好，檢出限低，可使用一種 A S F檢測

1引言 隨著歐盟 R0 HS指令和中國的《子信息產(chǎn)品污染控 電制管理辦法》的正式實(shí)施，美國、日本等也都開始了相關(guān)法案的進(jìn)程。在各種環(huán)保法規(guī)的推動下，電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測成為一種保證符合性的重要依據(jù)和保

儀器即可完成電子信息產(chǎn)品中鉛、鎘和六價(jià)鉻的檢測。

關(guān)鍵詞 AS F法電子信息產(chǎn)品鉛、鎘和六價(jià)鉻 測定方法 Abs r t act h ta￣ i b/ted tr n t n o :T e e bl ’ eemiai f ' i i h o .

障。目前國內(nèi)所采用的檢測技術(shù)及其設(shè)備大部分都是進(jìn)口的，如 i CP-AES/ MS、AAS、UV、xRF等，這些設(shè)備本身較為昂貴、且運(yùn)行成本高。同時(shí)在以這些設(shè)備為基礎(chǔ)的電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)檢測技術(shù)上，國外檢測機(jī)

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構(gòu)或?qū)嶒?yàn)室具有領(lǐng)先地位。在這種情況下，有必要發(fā)展具

if r to o u tb sn h t m f u rs e c n o ma in prd c y u ig t ea o o e c n e l s e tu AF J to siv siae i su yn . p cr m( S h dwa n e t td i t s td ig me g nh

有我國自主知識產(chǎn)權(quán)的 AFs技術(shù)，一方面發(fā)展具有我國自 主

知識產(chǎn)權(quán)的檢測儀器和檢測技術(shù)， Ro在 HS檢測中占有 一

Ac odn oters l礦teep rme tl td ig te c r igt h eut s( h x e i na u yn,h s meh d h sg o pr cso n ( ur c, t loh lw t o a o d e ii na dⅡ a y a t a s a o c d

席之地，借此推動和促進(jìn)我國檢測技術(shù)在全球的影響力

和普遍性；一方面，AFS儀器價(jià)格低廉，可降低我國中另

小型企業(yè)以及檢測機(jī)構(gòu)的成本。

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為此，本研究在國內(nèi)一些檢測機(jī)構(gòu)、儀器廠商的協(xié)助 下，對 AFS法測定電子信息產(chǎn)品中的鉛、、六價(jià)鉻，，在鎘

u' o p eeted tr n t nt lmb m c d u s o .dt c m lt h eemiai堪p u u a mim e o a d h x v ln h o u nt eee t n ci o ma in n e a ae t rmim i h lc r i f r t c o n o p o u r d c。 t

樣品制作

、

方法檢出限、方法準(zhǔn)確度、方法精密度等方面

做了探索性研究。

Ke wo d:h o fu r cn ep c u e o; y r s te t l oe ec et mm t d am s s r h teee t nci o mainp o u tpu u c d u n h l r i n r t rd c; lmb m, a mim a d c o f o h x aef ho u e av ln r mi m;ted t r n n to c h ee mi ig me h d

2實(shí)驗(yàn) 2 1儀器及其工作條件 . 本研究所使用的儀器見表 1,儀器工作條件見表 2。

2 0第¨期 0 7年

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