二極管檢波效率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā)
發(fā)布時(shí)間:2017-11-14 23:18
本文關(guān)鍵詞:二極管檢波效率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā)
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【摘要】:本論文的內(nèi)容主要涉及到三個(gè)方面:二極管檢波效率測(cè)試原理的分析,檢波效率測(cè)試軟件的開發(fā),以及測(cè)試算法的探討。現(xiàn)今國內(nèi)的二極管檢波效率測(cè)試主要面臨的問題是,由于涉及到測(cè)試參數(shù)的復(fù)雜性,同時(shí)運(yùn)作設(shè)備的多樣性,以及測(cè)試過程中數(shù)據(jù)的分析需求,在保證控制精度的情況下,測(cè)試人員很難實(shí)現(xiàn)測(cè)試工序的高效化。然而,二極管檢波效率恰恰又是衡量檢波二極管性能優(yōu)劣的一項(xiàng)重要指標(biāo)。在半導(dǎo)體工業(yè)生產(chǎn)中,它的測(cè)試篩選環(huán)節(jié)便顯得尤為重要。所以,對(duì)提升半導(dǎo)體工業(yè)生產(chǎn)的實(shí)際產(chǎn)出效率來說,實(shí)現(xiàn)二極管檢波效率測(cè)試及數(shù)據(jù)分析的自動(dòng)化,具有極強(qiáng)的建設(shè)意義。然而,現(xiàn)今我國針對(duì)二極管檢波效率測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)還依然處于落后的階段,基于我國半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)研究起步較晚的現(xiàn)狀,生產(chǎn)利潤小、研發(fā)投入大、技術(shù)門檻高是國內(nèi)研發(fā)團(tuán)隊(duì)所面臨的棘手問題。因此產(chǎn)業(yè)越是薄弱,整體競(jìng)爭(zhēng)力越是弱不禁風(fēng),發(fā)展難以維系,更難抗衡國外的研發(fā)力量,周而復(fù)始,惡性循環(huán)。本人想借論文研究的機(jī)會(huì),結(jié)合幾年來工作的知識(shí)及經(jīng)驗(yàn),利用平日積累的軟件和電學(xué)知識(shí),設(shè)計(jì)一款實(shí)用的二極管檢波效率測(cè)試系統(tǒng),以解決工作中的實(shí)際問題。本文按照整套軟件的開發(fā)順序展開,從版權(quán)驗(yàn)證到各功能模塊的設(shè)計(jì),再到可執(zhí)行程序的封裝,最終形成安裝文件包。本文著重探討了軟件的測(cè)試邏輯,數(shù)據(jù)處理方案,以及具體的編程技巧與心得。本測(cè)試系統(tǒng)通過串口通信使LabVIEW軟件將測(cè)試工作的組成設(shè)備(SP2271型數(shù)字超高頻毫伏頻率表、F120型數(shù)字函數(shù)波形發(fā)生器、34401A安捷倫數(shù)字萬用表,以及數(shù)字信號(hào)控制I/O卡)有機(jī)地結(jié)合在一起,形成一條完整的閉環(huán)反饋系統(tǒng),結(jié)合基本的整定算法,實(shí)現(xiàn)測(cè)試的參數(shù)設(shè)定、信號(hào)跟蹤、結(jié)果篩選、報(bào)表生成等一系列的數(shù)據(jù)處理,不僅提高了測(cè)試效率,節(jié)省了大量人力統(tǒng)算,還細(xì)化、并精確了測(cè)試條件的參數(shù)設(shè)定,避免了因數(shù)據(jù)的高精度而產(chǎn)生的高出錯(cuò)率。自我開發(fā)完畢,投入使用至今天為止已有五個(gè)月之久,由先前的一人測(cè)試并造表,人復(fù)測(cè)并查驗(yàn)計(jì)算的數(shù)據(jù)縮減到今天的只需一人測(cè)試出報(bào)告,其余的相關(guān)工作全部交于程序自動(dòng)完成,單位工作量所耗用的時(shí)間縮短了85%,并無需擔(dān)心人工計(jì)算過程中會(huì)產(chǎn)生的錯(cuò)誤。
【學(xué)位授予單位】:山東大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TP311.52;TN307
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1 張中元;二極管檢波效率測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā)[D];山東大學(xué);2016年
,本文編號(hào):1187416
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