發(fā)布時(shí)間：2017-11-14 16:15

  本文關(guān)鍵詞：用于ADC測(cè)試的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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【摘要】：介紹了一種可用于百兆級(jí)采樣率模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)測(cè)試的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),給出其硬件設(shè)計(jì)原理與方法,并簡(jiǎn)要介紹了上位機(jī)軟件工作流程。該系統(tǒng)主要用于進(jìn)行8位或16位100 MHz采樣率ADC的動(dòng)態(tài)參數(shù)的測(cè)試,采用FPGA+USB的形式。其中,FPGA負(fù)責(zé)對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行緩存和傳輸,然后通過(guò)USB將數(shù)據(jù)上傳到上位機(jī)中,最后利用上位機(jī)軟件的控制算法實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)ADC參數(shù)的計(jì)算與顯示,從而得出電路的測(cè)試結(jié)果。該系統(tǒng)性目前已用于日常電路測(cè)試,并取得了良好的效果。
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【分類號(hào)】：TN792;TP274.2
【正文快照】： 隨著ADC的高速發(fā)展,其測(cè)試技術(shù)也隨之相應(yīng)的提高。通常的測(cè)試方法有模擬信號(hào)測(cè)試方法和數(shù)字信號(hào)處理方法。模擬信號(hào)測(cè)試是利用一個(gè)更高精度的DAC將待測(cè)ADC輸出的數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)化為模擬信號(hào),然后利用頻譜分析儀對(duì)DAC的模擬輸出信號(hào)進(jìn)行頻譜分析,得出信噪比等指標(biāo)。但這種測(cè)試方法

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8 王s，

本文編號(hào)：1186109