本文關(guān)鍵詞：用于ADC測試的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計

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【摘要】：介紹了一種可用于百兆級采樣率模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)測試的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),給出其硬件設(shè)計原理與方法,并簡要介紹了上位機軟件工作流程。該系統(tǒng)主要用于進(jìn)行8位或16位100 MHz采樣率ADC的動態(tài)參數(shù)的測試,采用FPGA+USB的形式。其中,FPGA負(fù)責(zé)對采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行緩存和傳輸,然后通過USB將數(shù)據(jù)上傳到上位機中,最后利用上位機軟件的控制算法實現(xiàn)對待測ADC參數(shù)的計算與顯示,從而得出電路的測試結(jié)果。該系統(tǒng)性目前已用于日常電路測試,并取得了良好的效果。
【作者單位】： 北京微電子技術(shù)研究所;
【分類號】：TN792;TP274.2
【正文快照】： 隨著ADC的高速發(fā)展,其測試技術(shù)也隨之相應(yīng)的提高。通常的測試方法有模擬信號測試方法和數(shù)字信號處理方法。模擬信號測試是利用一個更高精度的DAC將待測ADC輸出的數(shù)字信號轉(zhuǎn)化為模擬信號,然后利用頻譜分析儀對DAC的模擬輸出信號進(jìn)行頻譜分析,得出信噪比等指標(biāo)。但這種測試方法

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8 王s，

本文編號：1186109