本文關(guān)鍵詞：SERDES芯片的驗(yàn)證與測試研究

  更多相關(guān)文章： SERDES 仿真 測試 可測性設(shè)計 FPGA

【摘要】：隨著時代的進(jìn)步和科技的發(fā)展,如今社會對信息的需求達(dá)到了空前的水平。這不僅表現(xiàn)在希望信息量更豐富上,更對信息傳輸?shù)乃俾侍岢隽烁叩囊�。SERDES技術(shù)正是在這種形式下應(yīng)運(yùn)而生的,它擁有傳統(tǒng)并行接口不可比擬的速度優(yōu)勢并且擁有更小的硬件開銷,因而在如今的高速通信系統(tǒng)中隨處可見SERDES芯片的身影。在集成電路設(shè)計流程中,驗(yàn)證與測試是極其重要的環(huán)節(jié),它們往往占據(jù)了設(shè)計的大部分時間。隨著集成電路越來越復(fù)雜,驗(yàn)證與測試面臨的挑戰(zhàn)也越來越多。而SERDES芯片作為一款復(fù)雜的高速集成電路芯片,如何對其進(jìn)行有效的驗(yàn)證和測試,是非常值得研究的。論文首先說明了什么是SERDES技術(shù)以及SERDES技術(shù)常用的四種架構(gòu),包括并行時鐘SERDES,嵌入式時鐘SERDES,位交錯SERDES以及8b/10bSERDES,并且著重介紹了論文所研究的8b/10b編碼架構(gòu)下的SERDES芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu),其中數(shù)字電路部分主要為編解碼電路,模擬電路部分主要為鎖相環(huán)模塊,時鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)模塊以及發(fā)送接收模塊;其次對SERDES芯片的主要性能指標(biāo)如傳輸速率,誤碼率以及抖動等做出了詳細(xì)介紹,并研究了這些性能指標(biāo)的成因以及影響因素;再次研究了SERDES芯片中的可測性設(shè)計技術(shù),介紹了什么是偽隨機(jī)二進(jìn)制碼和線性反饋移位寄存器,并用偽隨機(jī)二進(jìn)制碼生成電路和驗(yàn)證電路實(shí)現(xiàn)了內(nèi)建自測試,起到了輔助芯片測試的效果;然后使用不同的仿真工具和仿真方法對SERDES芯片中數(shù)字電路部分和模擬電路部分分別進(jìn)行了功能驗(yàn)證以及物理驗(yàn)證,并且對數(shù)字電路部分做了測試代碼覆蓋率的分析;最后研究了SERDES芯片測試方案的選擇,為流片后的待測SERDES芯片搭建了以FPGA為核心的硬件測試PCB平臺,對芯片進(jìn)行了各種工作模式下的功能測試,包括內(nèi)環(huán)模式、外環(huán)模式以及內(nèi)建自測試模式,在確保待測SERDES芯片功能無誤后,利用測試平臺對誤碼率進(jìn)行了估測。
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN407

【相似文獻(xiàn)】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前5條

1 霍衛(wèi)濤;邵剛;李攀;李哲;;高速SerDes抖動成因及其測試方法分析[J];計算機(jī)光盤軟件與應(yīng)用;2012年02期

2 韓洪麗;康志杰;;SERDES在程控交換機(jī)系統(tǒng)中的應(yīng)用[J];計算機(jī)與網(wǎng)絡(luò);2009年05期

3 張杰;孫立宏;;基于VMM統(tǒng)一驗(yàn)證平臺的Serdes芯片驗(yàn)證[J];中國集成電路;2012年04期

4 ;萊迪思半導(dǎo)體推出適用于具有可配置SERDES的FPGA的最低成本的設(shè)計平臺[J];電子與電腦;2011年05期

5 ;[J];;年期

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前4條

1 黃尚明;高速SERDES接口建模與鎖相環(huán)設(shè)計[D];合肥工業(yè)大學(xué);2015年

2 詹遙;SERDES芯片的驗(yàn)證與測試研究[D];電子科技大學(xué);2016年

3 王偉濤;8b/10b架構(gòu)SerDes芯片的設(shè)計與實(shí)現(xiàn)[D];電子科技大學(xué);2016年

4 彭穎;SerDes芯片設(shè)計驗(yàn)證及測試技術(shù)研究[D];電子科技大學(xué);2011年

，

本文編號：1177492