本文關(guān)鍵詞：邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

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【摘要】：為了解決復(fù)雜電路板的測(cè)試點(diǎn)少和測(cè)試覆蓋率低以及傳統(tǒng)的測(cè)試設(shè)備體積大、成本高等問(wèn)題,IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)被公布并發(fā)展出了邊界掃描技術(shù)。本設(shè)計(jì)以邊界掃描技術(shù)為基礎(chǔ),開(kāi)發(fā)出由測(cè)試軟件、測(cè)試控制器以及目標(biāo)電路板組成的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),并通過(guò)對(duì)目標(biāo)板的故障測(cè)試,驗(yàn)證了該系統(tǒng)滿足完整性測(cè)試,互聯(lián)測(cè)試的設(shè)計(jì)要求且對(duì)印刷電路板(PCB)和集成電路(IC)制造和使用過(guò)程中出現(xiàn)的橋接故障和呆滯故障有良好的故障診斷、定位功能。
【作者單位】： 桂林電子科技大學(xué)電子工程與自動(dòng)化學(xué)院;
【分類(lèi)號(hào)】：TN407
【正文快照】： 1引言印刷電路板在制造完成后會(huì)進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè),傳統(tǒng)的測(cè)試方法是將電路板固定在針床或夾具上,通過(guò)探針將激勵(lì)信號(hào)施加到被測(cè)元件的輸入管腳,相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào)也是通過(guò)探針在輸出管腳上取得,但隨著電子工業(yè)的發(fā)展,超大規(guī)模集成電路(VLSI)和表面貼裝(SMT)器件被大量使用,使得電路板

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本文編號(hào)：1166802