發(fā)布時間：2017-11-07 20:23

  本文關(guān)鍵詞：測試平臺數(shù)據(jù)比對及相關(guān)問題分析

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【摘要】：在芯片產(chǎn)業(yè)鏈中,芯片測試環(huán)節(jié)是不可或缺的,是對芯片產(chǎn)品質(zhì)量檢驗的重要手段之一。為了滿足測試產(chǎn)能的需要,受各種因素影響,往往需要在不同測試平臺進行產(chǎn)能擴展的活動,開發(fā)對應(yīng)的測試程序。在芯片測試程序開發(fā)完成之后,需要對測試平臺移植進行風險評估,也就是工程批實驗,根據(jù)實驗結(jié)果判斷是否可以進行后續(xù)量產(chǎn)。通過對一款芯片在T2000和J750兩種測試平臺的測試數(shù)據(jù)進行分析,深入了解測試平臺移植過程中,如何對開發(fā)結(jié)果進行評價,并在對測試數(shù)據(jù)進行詳細比對和差異化問題分析過程中,從不同角度闡述測試數(shù)據(jù)的一致性和重復(fù)性問題。
【作者單位】： 北京確安科技股份有限公司;
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言隨著電子技術(shù)的不斷革新,涉及的范圍也在不斷擴大。在芯片測試行業(yè)[1],同一款芯片測試在不同機臺上面開發(fā)時有發(fā)生,往往在產(chǎn)能調(diào)配,或者產(chǎn)能激增的情況下發(fā)生,那么多種平臺的測試結(jié)果比對就顯得尤為重要。2平臺介紹泰瑞達J750[2]測試機是集成電路測試設(shè)備歷史上最常用的

【相似文獻】

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中國碩士學位論文全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 鄭瀏e，

本文編號：1153972