倒裝LED回流焊接頭組織的抗高溫時(shí)效性能
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【摘要】:以SAC305錫膏為釬料,通過(guò)回流焊實(shí)現(xiàn)了倒裝LED與Cu/Ag、Cu/Ni/Au基板的互連.研究了兩種接頭界面微觀(guān)組織在高溫時(shí)效條件下的演變行為.結(jié)果表明,接頭兩側(cè)界面組織間存在相互影響.Cu/Ni/Au基板中的Au在回流焊過(guò)程中溶解至體釬料內(nèi),對(duì)芯片側(cè)Au-Sn金屬間化合物的生長(zhǎng)起到抑制效果.芯片側(cè)Au-Sn金屬間化合物的快速生長(zhǎng)降低了體釬料中Sn的相對(duì)濃度,從而使體釬料中有利于基板側(cè)IMC生長(zhǎng)組元的相對(duì)濃度得到提升,促進(jìn)基板側(cè)IMC生長(zhǎng).相比較而言,在Cu/Ag基板上的回流焊試樣抗高溫時(shí)效性能較差.
【作者單位】: 哈爾濱理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院;半導(dǎo)體照明聯(lián)合創(chuàng)新國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;代爾夫特理工大學(xué)北京研究中心;
【基金】:黑龍江省普通本科高等學(xué)校青年創(chuàng)新人才培養(yǎng)計(jì)劃資助項(xiàng)目(UNPYSCT-2015042) 黑龍江省教育廳科研資助項(xiàng)目(12541112) 黑龍江省大學(xué)生創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)資助項(xiàng)目(201310214035)
【分類(lèi)號(hào)】:TN312.8;TG454
【正文快照】: 0序言以Si C,Ga N等第三代半導(dǎo)體材料為主的發(fā)光二極管(LED)光源具有節(jié)能、環(huán)保和服役壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)[1].當(dāng)前市場(chǎng)主流LED封裝形式采用正裝打線(xiàn)工藝.這種結(jié)構(gòu)存在導(dǎo)熱效果差,固晶效率低等問(wèn)題[2].此外,正裝LED芯片電極及引線(xiàn)遮光對(duì)其光效存在影響[3].倒裝LED芯片技術(shù)克服了正裝L
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【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):1153018
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