直流GIL內金屬微粒對表面電荷積聚影響的三維仿真及實驗研究
本文關鍵詞:直流GIL內金屬微粒對表面電荷積聚影響的三維仿真及實驗研究
更多相關文章: 直流GIL 表面電荷積聚 微粒黏附 微觀機制 三維仿真
【摘要】:針對直流GIL中金屬微粒污染問題,該文研究了其對模型絕緣子表面電荷積聚的影響;邴溈怂鬼f理論,納入微粒污染以及氣體側空間離子的產生、復合、遷移、擴散等作用,建立了微粒污染情況下包含氣體側微觀機制的絕緣子表面電荷積聚模型,利用COMSOL軟件對三維情況下絕緣子形狀、金屬微粒不同黏附形態(tài)以及不同氣體環(huán)境對表面電荷積聚的影響進行了求解分析,同時搭建了考慮導電微粒情況的電荷測量平臺,對仿真中典型設置進行實驗,驗證仿真結果的正確性。研究表明,隨截面底角減小,電荷更多積聚于絕緣子表面;黏附于絕緣子表面的金屬微粒會引起表面電荷大積聚激增,沿高低壓電極連線黏附微粒引起積聚最明顯;氣體環(huán)境改變會引起表面電荷積聚發(fā)生改變,低氣壓時更易積聚電荷。
【作者單位】: 華北電力大學電氣與電子工程學院;
【關鍵詞】: 直流GIL 表面電荷積聚 微粒黏附 微觀機制 三維仿真
【基金】:國家重點基礎研究發(fā)展計劃項目(973項目)(2014CB239502)~~
【分類號】:TM216
【正文快照】: 0引言 中國迅速發(fā)展的社會經濟對特高壓直流輸電的需求日益突出,而直流GIL以其大容量、高電壓、高可靠性的優(yōu)勢,具有巨大的應用前景。但是,在直流GIL運行過程中,絕緣子的沿面閃絡始終是限制其大規(guī)模應用的難題,有研究表明,金屬微粒污染與支撐絕緣表面存在電荷積聚是引起閃絡
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,本文編號:779870
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