直流GIL內(nèi)金屬微粒對(duì)表面電荷積聚影響的三維仿真及實(shí)驗(yàn)研究
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更多相關(guān)文章: 直流GIL 表面電荷積聚 微粒黏附 微觀機(jī)制 三維仿真
【摘要】:針對(duì)直流GIL中金屬微粒污染問(wèn)題,該文研究了其對(duì)模型絕緣子表面電荷積聚的影響。基于麥克斯韋理論,納入微粒污染以及氣體側(cè)空間離子的產(chǎn)生、復(fù)合、遷移、擴(kuò)散等作用,建立了微粒污染情況下包含氣體側(cè)微觀機(jī)制的絕緣子表面電荷積聚模型,利用COMSOL軟件對(duì)三維情況下絕緣子形狀、金屬微粒不同黏附形態(tài)以及不同氣體環(huán)境對(duì)表面電荷積聚的影響進(jìn)行了求解分析,同時(shí)搭建了考慮導(dǎo)電微粒情況的電荷測(cè)量平臺(tái),對(duì)仿真中典型設(shè)置進(jìn)行實(shí)驗(yàn),驗(yàn)證仿真結(jié)果的正確性。研究表明,隨截面底角減小,電荷更多積聚于絕緣子表面;黏附于絕緣子表面的金屬微粒會(huì)引起表面電荷大積聚激增,沿高低壓電極連線黏附微粒引起積聚最明顯;氣體環(huán)境改變會(huì)引起表面電荷積聚發(fā)生改變,低氣壓時(shí)更易積聚電荷。
【作者單位】: 華北電力大學(xué)電氣與電子工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】: 直流GIL 表面電荷積聚 微粒黏附 微觀機(jī)制 三維仿真
【基金】:國(guó)家重點(diǎn)基礎(chǔ)研究發(fā)展計(jì)劃項(xiàng)目(973項(xiàng)目)(2014CB239502)~~
【分類號(hào)】:TM216
【正文快照】: 0引言 中國(guó)迅速發(fā)展的社會(huì)經(jīng)濟(jì)對(duì)特高壓直流輸電的需求日益突出,而直流GIL以其大容量、高電壓、高可靠性的優(yōu)勢(shì),具有巨大的應(yīng)用前景。但是,在直流GIL運(yùn)行過(guò)程中,絕緣子的沿面閃絡(luò)始終是限制其大規(guī)模應(yīng)用的難題,有研究表明,金屬微粒污染與支撐絕緣表面存在電荷積聚是引起閃絡(luò)
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,本文編號(hào):779870
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