在日�？蒲泄ぷ髦�,經(jīng)常需要測(cè)量數(shù)值較小的電阻電感,譬如器件接觸電阻、導(dǎo)線(xiàn)電阻以及變壓器,電機(jī),磁體的繞線(xiàn)阻抗、電路板板刷線(xiàn)阻抗等。這些阻抗模值對(duì)于電路和裝置的設(shè)計(jì)、精度等都有影響,而且在裝置運(yùn)行中,阻抗參數(shù)的變化對(duì)裝置的結(jié)構(gòu)、運(yùn)行狀態(tài)、溫度變化、故障原因等有重要的參考價(jià)值和研究意義。但在實(shí)際工作中,由于這些阻抗模值過(guò)于微小,經(jīng)常使用的萬(wàn)用表對(duì)于這個(gè)級(jí)別的阻抗往往無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量,誤差過(guò)大,故需一個(gè)專(zhuān)門(mén)測(cè)量小阻抗的裝置,實(shí)現(xiàn)對(duì)磁體、元件等的阻抗參數(shù)的精確測(cè)量和監(jiān)控。本文通過(guò)使用電壓端口和電流端口分離的四線(xiàn)制測(cè)量方式,有效避免了探頭的引線(xiàn)電阻以及測(cè)量阻抗時(shí)開(kāi)爾文夾產(chǎn)生的接觸電阻對(duì)儀器測(cè)量精度的影響;同時(shí)放棄了開(kāi)爾文電橋搭配標(biāo)準(zhǔn)電阻的傳統(tǒng)測(cè)量模式,使用全數(shù)字測(cè)量方法,優(yōu)化硬件設(shè)計(jì),使得儀器小型化、便攜化。儀器裝置設(shè)計(jì)采用帶PI反饋放大的恒流源搭配高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行采樣,通過(guò)微處理器內(nèi)部程序來(lái)控制恒流源發(fā)出放大的恒定電流,根據(jù)阻抗的性質(zhì)不同,采用直流和交流分離的模式進(jìn)行測(cè)量,直流模式產(chǎn)生數(shù)值可控的直流電流,交流模式產(chǎn)生幅值頻率可控的交流電流,分別測(cè)量直流電阻和交流電感,電流作用于待測(cè)阻抗并產(chǎn)生電壓...

【文章頁(yè)數(shù)】：76 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖3.3阻抗測(cè)試儀主體PCB板設(shè)計(jì)圖

盡量放置在一起；噪聲隔離化，對(duì)于易產(chǎn)生高號(hào)、邏輯信號(hào)器件；布線(xiàn)分類(lèi)化，對(duì)于信號(hào)源不計(jì)粗一些，高頻信號(hào)線(xiàn)布線(xiàn)距離盡量短，避免布，減少高頻干擾；電源、芯片的去耦合，在電源計(jì)去耦合電容，減少高頻雜散信號(hào)的干擾。圖3.2阻抗測(cè)試儀部分電路連接邏輯圖

圖3.2阻抗測(cè)試儀部分電路連接邏輯圖

中科技大學(xué)碩士學(xué)位論論文電路板的優(yōu)化硬件電路的基礎(chǔ)部件和元件的電氣支撐體。為門(mén)對(duì)儀器的印刷電路板進(jìn)行了優(yōu)化。元器件的位串口連接線(xiàn)等盡量放在板邊位置；元件布局模塊，盡量放置在一起；噪聲隔離化，對(duì)于易產(chǎn)生高號(hào)、邏輯信號(hào)器件；布線(xiàn)分類(lèi)化，對(duì)于信號(hào)源不計(jì)粗一些，高頻信....

圖3.5C8051F系列芯片內(nèi)部框圖

儀的微處理器模塊設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)中，微處理器是整個(gè)儀器的控制中心、運(yùn)算中心和判斷腦，沒(méi)有微處理器，其他所有的模塊都無(wú)法正常工作。各個(gè)模器進(jìn)行控制，通過(guò)對(duì)微處理器寫(xiě)入程序，以及其他模塊與微處氣連接來(lái)控制整個(gè)儀器的運(yùn)行[29]。阻抗數(shù)據(jù)的寫(xiě)入和計(jì)算也理，利用合理算法將采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行高速運(yùn)....

圖3.6AD5420硬件內(nèi)部框圖

圖3.6AD5420硬件內(nèi)部框圖和參數(shù)如下：分辨率，電流輸出大小可編程輸出范圍，分別有0mA到24mA、0mA到20mA和4溫漂僅±3ppm/℃，整體非調(diào)整誤差（TUE）僅有±0.01%P、SPI、QSPI、MICROWIRE等串行接口協(xié)議，用來(lái)....

本文編號(hào)：4006771