【摘要】：水分對(duì)油浸紙(OIP)絕緣套管的介電性能會(huì)產(chǎn)生不利影響。它不僅會(huì)降低絕緣的介電強(qiáng)度以及擊穿強(qiáng)度,并且會(huì)導(dǎo)致絕緣材料的劣化,引發(fā)套管故障,進(jìn)而引起變壓器和電力系統(tǒng)故障。大多數(shù)套管故障是由于水分侵入高壓電力變壓器絕緣套管引起的。目前,基于頻域介電譜(FDS)的測量方法被廣泛應(yīng)用于絕緣狀況的檢測。它可以確定絕緣套管中的水分,并反映整體絕緣性能的變化。本研究采用FDS方法,研究了由三層電容屏構(gòu)成的15kV OIP套管模型,研究了水分及受潮部位在實(shí)驗(yàn)室條件下對(duì)OIP絕緣套管的影響。研究結(jié)果表明,OIP絕緣套管中的水分導(dǎo)致絕緣呈現(xiàn)出高電容(C)和介損因數(shù)(DF)。關(guān)于OIP絕緣套管中水分位置的影響,研究結(jié)果表明,水分高度集中在最內(nèi)層和中層,且FDS對(duì)于絕緣較薄的套管中水分的檢測和定位比在絕緣較厚的套管中更靈敏。研究結(jié)果還表明,OIP絕緣套管內(nèi)的水分對(duì)絕緣參數(shù)有很大影響,如C,DF,絕緣電阻IR和相對(duì)介電常數(shù)ε*的實(shí)部。其中,DF是預(yù)測OIP絕緣套管中水分的最佳參數(shù)。最后,水分的增加會(huì)表現(xiàn)為低頻下tanδ(DF)的最大值顯著增加,而tanδ最小值逐漸增加,這可以作為評(píng)估絕緣套管中水分的診斷參數(shù)。
【學(xué)位授予單位】：華北電力大學(xué)(北京)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2019
【分類號(hào)】：TM855;TM934.3

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本文編號(hào)：2764239