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含硅量子點SiC_x薄膜的磁控濺射制備及微波退火工藝研究

發(fā)布時間:2020-07-19 10:34
【摘要】:高效率、低成本、長壽命一直是太陽電池研發(fā)的目標(biāo)。硅量子點(Si-QDs)薄膜因具備帶隙可調(diào)、原料豐富和量子限域效應(yīng)等優(yōu)點,成為目前研究的熱門材料之一。本論文主要通過磁控濺射制備了含硅量子點SiC_x薄膜,結(jié)合性能的表征,研究了磁控濺射工藝及微波退火對硅量子點的微結(jié)構(gòu)和光電性能的影響。此外,還初步探討了微波退火對Si-QDs形核生長的影響。獲得了如下主要研究結(jié)果。(1)采用JS3S-80G型磁控濺射系統(tǒng)結(jié)合微波退火工藝,制備了含硅量子點SiC_x薄膜。通過改變?yōu)R射功率研究了薄膜的結(jié)構(gòu)特性和光學(xué)特性。結(jié)果表明,功率在60W~100W的范圍時,Si-QDs的數(shù)量呈現(xiàn)先增多后減少的趨勢,尺寸則先增大后減小,同時硅量子點薄膜的晶化率先升高后降低。薄膜的光學(xué)帶隙先減少后增大,這歸因于Si-QDs的量子限域效應(yīng)。濺射功率為80W時,制備的Si-QDs薄膜質(zhì)量最佳。(2)采用三靶交替濺射方法并結(jié)合微波退火工藝,并通過改變B靶的濺射功率制備出不同B摻雜量的p型SiC_x/SiC硅量子點薄膜。XPS等分析結(jié)果表明,B原子以替位式摻雜在硅量子點結(jié)構(gòu)中,B的摻雜量對Si-QDs結(jié)構(gòu)特性的影響甚微。Hall效應(yīng)測試表明:B摻雜量越高,薄膜的載流子濃度和電導(dǎo)率越高,Hall遷移率越小。當(dāng)B靶的濺射功率為20W,Si靶的濺射功率為80W,SiC靶的濺射功率為80W時,薄膜的電學(xué)性能最佳。(3)采用三靶交替濺射方法制備了B摻雜SRC/SiC多層結(jié)構(gòu)的薄膜。通過改變微波退火溫度研究了薄膜的電學(xué)特性及SRC層中Si-QDs的生長規(guī)律。XPS等分析表明,B原子能有效地?fù)诫s到了Si-QDs的結(jié)構(gòu)中。當(dāng)退火溫度為1100℃時,樣品中的Si-QDs數(shù)量最多,尺寸最大(5.48nm)。Si-QDs的數(shù)量與薄膜的電學(xué)性能呈正相關(guān)。當(dāng)微波退火的溫度為1100℃時,可獲得高品質(zhì)的硅量子點。(4)采用不同的退火方法,研究了B摻雜SiC_x/SiC硅量子點薄膜對結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能的影響。與快速光熱退火相比,微波退火可以使Si-QDs的形成溫度降低約200℃,這表明:微波退火的非熱效應(yīng)有利于Si-QDs的形核生長,產(chǎn)生更多的Si-QDs。與快速光熱退火相比,采用微波退火制備的B摻雜SiC_x/SiC硅量子點薄膜的品質(zhì)更佳。
【學(xué)位授予單位】:云南師范大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2019
【分類號】:TM914.4;TB383.2
【圖文】:

太陽電池,轉(zhuǎn)換效率,實驗室,單結(jié)


圖 1.1 最新總結(jié)各類太陽電池實驗室最高轉(zhuǎn)換效率[3]提高光伏轉(zhuǎn)換效率是研究太陽電池的主要目標(biāo)之一 如圖 1.2 所示說ソ崽艫緋氐鬧饕鶚О

本文編號:2762301

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