【摘要】：電連接器作為一種基礎(chǔ)元器件,其主要作用是實現(xiàn)電信號的傳輸和控制,在型號系統(tǒng)中應(yīng)用廣泛、數(shù)量眾多、地位重要。為了滿足型號系統(tǒng)日益提高的可靠性要求,系統(tǒng)對電連接器的貯存壽命要求已達到20~30年。目前在評估電連接器的貯存壽命時,主要考慮了溫度對其性能退化的影響,尚未考慮測試過程中插拔的影響。本文以型號上常用的Y11P-1419型電連接器為研究對象,在分析電連接器的貯存環(huán)境效應(yīng)和失效機理的基礎(chǔ)上,通過加速退化試驗揭示了插拔對電連接器接觸性能的影響規(guī)律,并利用試驗數(shù)據(jù)對考慮插拔的電連接器貯存可靠度和貯存壽命進行了評估,為進一步的研究奠定了基礎(chǔ)。全文共分五章,每章的主要內(nèi)容如下:第一章闡述了論文的研究背景和重要意義,介紹了貯存可靠性、加速退化試驗技術(shù)以及電連接器貯存可靠性的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀及其存在的問題,進而提出了本文的研究目標(biāo)和主要的研究內(nèi)容。第二章總結(jié)了型號上常用電連接器的結(jié)構(gòu)、類型和功能要求,基于電連接器的貯存環(huán)境效應(yīng)和失效模式分析,確定了接觸失效是電連接器的主要失效模式,并從微觀層面上研究了貯存過程中插拔對電連接器接觸性能的影響,得到了插拔會磨損接觸表面的鍍金層和氧化物膜層,加快后期貯存過程中接觸表面氧化膜層的增長速率,同時插拔會使電連接器的接觸電阻突然增大。第三章設(shè)計了不考慮插拔和考慮插拔的加速退化試驗,利用接觸電阻的加速退化軌跡驗證了插拔對電連接器接觸性能的影響,得出了插拔不僅會加快電連接器的退化速率,而且會使電連接器接觸電阻的退化軌跡產(chǎn)生跳變現(xiàn)象,并對跳變的幅度和跳變的回彈時間進行了分析,最后利用掃描電鏡和能譜分析證實了考慮插拔的電連接器接失效機理。第四章根據(jù)電接觸理論推導(dǎo)出了考慮插拔的電連接器貯存可靠性評估模型,并采用最小二乘法估計出了上述模型中的參數(shù),運用上述模型得出了考慮插拔的電連接器貯存可靠度,利用加速退化試驗所得數(shù)據(jù)預(yù)測了考慮插拔的電連接器貯存壽命,估計出在正常環(huán)境下電連接器的貯存壽命約為32年。第五章總結(jié)了全文的研究內(nèi)容,并對下一步的研究方向進行了展望。
【學(xué)位授予單位】：浙江理工大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類號】：TM503.5

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本文編號：2573608